德國FISCHEER經(jīng)銷商FMP30/FMP40測厚儀

德國FISCHEER經(jīng)銷商FMP30/FMP40測厚儀是德國fischer公司生產(chǎn)的新一代高功能高精度手提式測厚儀，配備可更換的探頭可以提供無損且高精度的涂鍍層厚度測量。使用方便，用于對幾乎所有金屬上的涂層進(jìn)行非破壞性的涂層厚度測量。

品牌簡介：

菲希爾進(jìn)口測厚儀是用來測量涂鍍層厚度的儀器，也用于鍍層成分分析。由于表面處理工藝在人類生活中的廣泛應(yīng)用，無論是功能性鍍層還是裝飾性涂層，各行各業(yè)對鍍層厚度有了明確要求。進(jìn)口測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測*的工具，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速突破，進(jìn)口測厚儀也同時(shí)向著微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向發(fā)展。菲希爾進(jìn)口測厚儀的測量分辨率已達(dá)到納米級，精度更是有了大幅度的提高。已經(jīng)具有了適用范圍廣泛，量程寬、操作簡便且界面友好等特點(diǎn)。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對涂層進(jìn)行非破壞性測量LI>

• 自動識別基材（FMP40）

• 可存儲高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)

• 可建立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式

• 數(shù)據(jù)最多可分為 4000個(gè)數(shù)據(jù)組

• 以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地表現(xiàn)測量結(jié)果

• 可以輸入過程公差極限并計(jì)算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk

• 當(dāng)超出公差極*，有聲音和視覺警告信號

• 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能：傳輸和保存測量值，全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評估，簡便生成并打印個(gè)人檢測報(bào)告

產(chǎn)品特殊功能

• 根據(jù)磁感應(yīng)法和（或）電渦流法無損測量涂鍍層 厚度。

• 自動識別探頭和基材。

• 堅(jiān)固的外殼及高對比度大尺寸圖形顯示器。

• 儀器操作簡單，具備多種統(tǒng)計(jì)評估能力。

• USB 接口可以連接計(jì)算機(jī)，F(xiàn)MP30-40 還可以連接 打印機(jī)。

• 創(chuàng)新的探頭技術(shù)使得測量更，測量范圍更廣。

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 汽車工業(yè)

• 涂料制造與加工

• 實(shí)驗(yàn)室

• 檢測機(jī)構(gòu)

• 航空工業(yè)

DELTASCOPE® FMP10 或 FMP30

可以測量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例 如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。

ISOSCOPE® FMP10 和 FMP30

可以測量非鐵磁金屬基材上涂料、油漆、塑料涂層和 陽極氧化層的厚度。

DUALSCOPE® FMP20 和 FMP40

能夠自動識別底材材料并且集成了兩種測量方法，使 這個(gè)系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基 材上的大部分涂鍍層的厚度。由于集合了兩種測量方 法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測量過程中同時(shí)測 得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示 出來。

應(yīng)用程式存儲

• 可以儲存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。

• 可以儲存 20,000 個(gè)讀數(shù)

• 可以儲存 4,000 個(gè)數(shù)據(jù)組

• 數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息

• 糾正已儲存的讀數(shù)

• 應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的 歸一化/校準(zhǔn)信息

• 通過電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱 （可選件：MP-Name軟件）

統(tǒng)計(jì)和計(jì)算

• 數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值

• 測量數(shù)據(jù)直方圖顯示

• 可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

• 測量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺和聲音警告

測量方式

• 連續(xù)測量模式下，測量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi) 模擬顯示

• 可使用矩陣測量模式進(jìn)行大量測量

• 取平均值：只儲存若干個(gè)測量數(shù)據(jù)的平均值

• 區(qū)域測量：提起探頭后才儲存測量過程中的平均值

• 自動測量：無需提起探頭，儀器自動獲得數(shù)值

• 離奇值控制：儀器可自動排除錯(cuò)誤的測量值

技術(shù)參數(shù)

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