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Elektrophysik MIKROTEST G6
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  • 產(chǎn)品型號(hào)
  • ElektroPhysik/德國(guó)EPK 品牌
  • 代理商 廠(chǎng)商性質(zhì)
  • 上海市 所在地

訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):900更新時(shí)間:2024-09-23 19:52:52

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Elektrophysik MIKROTEST G6:工作原理:Mikrotest 麥考特依據(jù)磁吸引力原理。 測(cè)量磁鋼與磁性基體(鋼或鎳)間的磁吸力與盤(pán)狀彈簧的彈力平衡。盤(pán)狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度直接相 關(guān)。平衡臂保證了各種方位的準(zhǔn)確測(cè)量(如在垂直面或仰面 測(cè)量)。
產(chǎn)品介紹

Elektrophysik MIKROTEST G6

 

Elektrophysik MIKROTEST G6

一、應(yīng)用 型號(hào)不同的 Mikrotest 麥考特測(cè)厚儀,可無(wú)損傷地測(cè)量: a、鐵上的所有非磁性涂層。如:鉻、銅、涂漆、橡膠等; b、非鐵磁性基體上的電鍍鎳層; c、鐵上的電鍍鎳層。 上述中的鐵基體均指的是商業(yè)未硬化鋼(St33 到St60 或C15 到C45 號(hào)鋼)

二、儀器簡(jiǎn)介
麥考特磁性測(cè)厚儀 
工作原理:Mikrotest 麥考特依據(jù)磁吸引力原理。 測(cè)量磁鋼(3)與磁性基體(鋼或鎳)間的磁吸力與盤(pán)狀彈簧 (6)的彈力平衡。盤(pán)狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度直接相 關(guān)。平衡臂(4)保證了各種方位的準(zhǔn)確測(cè)量(如在垂直面或仰面 測(cè)量)。 Mikrotest 6 型測(cè)厚儀無(wú)需電池就可直接工作,Mikrotest 7 型 測(cè)厚儀則需要一節(jié)6V 堿性電池。 

三、配置 Mikrotest 6 型(自動(dòng)型)測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置:手提繩、塑料盒 及中英文說(shuō)明書(shū)各一。

四、測(cè)量
測(cè)量前,請(qǐng)仔細(xì)清除磁頭和測(cè)量點(diǎn)的油污和灰塵,以免影響 測(cè)量結(jié)果。 使用 Mikrotest 6 型(自動(dòng)型) 如圖(1、2)所示,將Mikortest 麥考特測(cè)厚儀置于被測(cè)表 面;將指輪(5)向前旋轉(zhuǎn)到滿(mǎn)刻度以上部位(對(duì)于Nife50 和 Ni50 是向前推到0 位)。讓磁頭(3)吸附在被測(cè)表面;按下按鈕 (9),指輪會(huì)自動(dòng)地順時(shí)針旋轉(zhuǎn),直到磁頭跳起,刻度盤(pán)也隨之 自動(dòng)停止轉(zhuǎn)動(dòng),同時(shí)聽(tīng)到“呵噠”一聲。 此時(shí),刻度盤(pán)上的讀數(shù)即為所測(cè)量覆層的厚度值。

注意:推動(dòng)指輪時(shí),不能觸動(dòng)按鈕(9); 指輪只能逆時(shí)針推動(dòng),切勿順時(shí)針推動(dòng)。

五、在平面上測(cè)量
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響,注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui 小測(cè)量范圍和基體的厚度。

六、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí),可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口,所示。測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同,但要注意zui小曲率的 限制。

七、在粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí),讀數(shù)將增大(特別是在顆粒尖上)。 在特別粗糙(如峰值超過(guò)50um 的鋼基體上,并且涂層厚度超過(guò) 100um 時(shí),實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20%之多。在這種情況 下應(yīng)至少測(cè)量6 次以上,得出平均值。

八、檢查度
測(cè)厚儀裝有磁鋼,在正常使用時(shí)是不會(huì)發(fā)生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)去測(cè)量厚度標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行調(diào)整。對(duì) 于這種測(cè)量可采用EPK 公司的厚度標(biāo)準(zhǔn)件。

 



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