DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機(jī)型

Dualscope®FMP20：
由于自動(dòng)基板材料識(shí)別和兩種測量方法的結(jié)合，該通用儀器能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導(dǎo)電材料上的許多涂層。根據(jù)您的測量應(yīng)用，您可以根據(jù)磁感應(yīng)法（Deltascope®FMP10），渦流法（Isoscope®FMP10）或根據(jù)兩種方法組合在一臺(tái)儀器（Dualscope®FMP20）中進(jìn)行的涂層厚度測量。

DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機(jī)型符合：ISO 2178,2360,2808; EN ISO 19840; ASTM B499; D1186，D1400，D7091，E376，G12;SSPC-PA2;BS3900-C5; BS EN ISO 1461; IMO PSPC

特征：

適用于所有磁感應(yīng)和渦流探頭

自動(dòng)探頭識(shí)別
自動(dòng)基材識(shí)別（FMP 20）
用戶友好的儀器操作
用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C的USB端口
大，顯示與240x160像素豐富的對比
準(zhǔn)備在上電后進(jìn)行測量
探頭放置時(shí)自動(dòng)測量采集
內(nèi)存多達(dá)1000個(gè)讀數(shù)
測量采集時(shí)的聲音信號(hào)
共同特征值的統(tǒng)計(jì)顯示，如平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，zui小值，
zui大，范圍
通過ZERO鍵通過歸一化，輕松適應(yīng)樣品的形狀
對于強(qiáng)大的形狀差異，使用一個(gè)或兩個(gè)校準(zhǔn)箔進(jìn)行額外的校正校準(zhǔn)
在材料和幾何特性的情況下，特性設(shè)置的主校準(zhǔn)
將主校準(zhǔn)存儲(chǔ)在連接的探頭中的能力
測量單位可以在μm和mil之間切換
可調(diào)節(jié)儀器關(guān)閉或連續(xù)操作
顯示各種狀態(tài)（例如，當(dāng)電池電壓下降時(shí)的警告信息）
可鎖定鍵盤/限制操作模式
機(jī)械滑塊覆蓋測量操作不需要的鍵
各種語言設(shè)置

磁感應(yīng)法
其強(qiáng)度取決于涂層厚度，并被磁性基材擴(kuò)大。 捕獲該放大的測量線圈的信號(hào)通過存儲(chǔ)在儀器中的探針特性轉(zhuǎn)換成涂層厚度讀數(shù)。

渦流法

探頭的激勵(lì)電流使得能夠在基材中引起渦流的高頻初級(jí)磁場。 其二次磁場削弱了主場。 這種弱化效應(yīng)對應(yīng)于探頭和基材之間的距離（=涂層厚度），并通過存儲(chǔ)在儀器中的探頭特性轉(zhuǎn)換成涂層厚度讀數(shù)。