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FischerScope MMS測厚儀六種基本模塊
參考價: 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產(chǎn)品型號
  • Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
  • 代理商 廠商性質(zhì)
  • 上海市 所在地

訪問次數(shù):1067更新時間:2024-09-24 18:17:42

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化:
www.fischerchina.cn
網(wǎng)址:
www.dooz17.com/

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產(chǎn)品簡介
FischerScope MMS測厚儀六種基本模塊
鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽極氧化涂層(PERMASCOPE®)
納米涂層(防指紋),太陽能電池涂層(薄膜層,CdTe /玻璃),插頭觸點上的金涂層,焊盤上的焊料,痕量分析,光敏涂層,油和蠟層(BETASCOPE®)
測量電路板表面和通孔上的銅涂層(SIGMASCOPE®)
層壓板或多層的銅厚度,不受電路板制造中的銅涂層(SR-SCOPE®)
產(chǎn)品介紹

FischerScope MMS測厚儀六種基本模塊

 

六種基本的模塊:

FISCHERSCOPE MMS PEMASCOPE涂層測厚儀

FISCHERSCOPE MMS NICKELSCOPE涂層測厚儀

FISCHERSCOPE MMS SIGMASCOPE涂層測厚儀

FISCHERSCOPE MMS DUPLEX涂層測厚儀

FISCHERSCOPE MMS PC涂層測厚儀

BFISCHERSCOPE MMS BETASCOPE 涂層測厚儀

模塊化設(shè)計可以在以后升級儀器到可用更多的方法進行測量。 FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀的應(yīng)用場合由于采用了多種測量方法,MMS 可用于電鍍廠,線路板生產(chǎn)廠,汽車和航空生產(chǎn)廠的多種應(yīng)用場合。

FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀是一臺小巧和極其多用的的臺式多功能測量系統(tǒng),有數(shù)據(jù)存儲及數(shù)據(jù)處理能力。使用戶可以自己配置不同的測試模塊。FISCHERSCOPE MMS PC2與Windows™CE操作系統(tǒng)的模塊化測量系統(tǒng)是高精度涂層厚度測量和材料測試的理想解決方案。 通過LAN和USB連接的網(wǎng)絡(luò)功能可以快速集成到質(zhì)量管理體系和自動化制造流程中。有

 

應(yīng)用:

鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽極氧化涂層(PERMASCOPE®)
納米涂層(防指紋),太陽能電池涂層(薄膜層,CdTe /玻璃),插頭觸點上的金涂層,焊盤上的焊料,痕量分析,光敏涂層,油和蠟層(BETASCOPE®)
測量電路板表面和通孔上的銅涂層(SIGMASCOPE®)
層壓板或多層的銅厚度,不受電路板制造中的銅涂層(SR-SCOPE®)的任何影響
電路板制造中銅阻焊層厚度(PERMASCOPE®)
汽車行業(yè)的活塞表面上的石墨涂層或制動盤上的防腐涂層(PERMASCOPE®)
汽車行業(yè)的活塞表面(NICKELSCOPE®)上的黑色涂料
奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量(PERMASCOPE®)
銅,鋁,鈦等非磁性金屬的導電性(SIGMASCOPE®)

 

ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測量系統(tǒng)整體方案:

 FISCHERSCOPE® XUL®
穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測量儀,用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測量
 FISCHERSCOPE® XULM®
X射線熒光測量儀,用于對小部件進行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測量
 FISCHERSCOPE® XAN® 120
X 射線熒光測試儀,用于快速、非破壞性的對黃金和銀合金進行分析
 FISCHERSCOPE® XAN® 220
用于快速無損分析黃金和銀合金的 X 射線熒光測量設(shè)備
 FISCHERSCOPE® XAN® 250
滿足無損材料分析和涂層厚度測量zui高要求的通用型X射線熒光測量設(shè)備
 FISCHERSCOPE® XDL®
X 射線熒光測量儀,用于對功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進行手動或自動涂層厚度測
 FISCHERSCOPE® XDLM®
X射線熒光測試儀,用于對電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進行手動或自動測量,也適用于小型結(jié)構(gòu)
 FISCHERSCOPE® XDAL®
X 射線熒光測量儀帶有可編程的 X/Y臺和Z軸,用于自動測量涂鍍層厚度和材料分析
 FISCHERSCOPE® XDV®-SDD
滿足高要求的 X 射線熒光測試儀,帶有可編程的 X/Y 工作臺和 Z 軸,用于自動測量極薄的涂層和進行印痕分析
 FISCHERSCOPE® XDV®-µ
帶有毛細管X 光透鏡的 X 射線熒光測量儀,用于在小零件和結(jié)構(gòu)上自動測量并分析涂層厚度及涂層成分
 FISCHERSCOPE® XUV® 773
X 射線熒光測試儀帶有真空室,通用型設(shè)備測量具有全面的測量能力
 FISCHERSCOPE® X-RAY-4000
X 射線熒光測量系統(tǒng),用于在光滑的和壓印的(包括帶有鑄模接觸面)帶鋼生產(chǎn)工藝中進行連續(xù)的在線測量和分析
 FISCHERSCOPE® X-RAY-5000
X 射線熒光測量系統(tǒng),用于在生產(chǎn)工藝中對較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進行連續(xù)的在線測量和分析
 校準標準
校準標準 FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測量系統(tǒng)的軟件
 WinFTM® 軟件®
適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線熒光測量系統(tǒng)的軟件
 備件
X-RAY 產(chǎn)品備件

 

 



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