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篤摯儀器(上海)有限公司
參考價(jià): | 面議 |
- Couloscope CMS2 STEP 產(chǎn)品型號(hào)
- Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問(wèn)次數(shù):807更新時(shí)間:2024-09-27 08:23:07
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庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
Fischer*臺(tái)式測(cè)厚儀庫(kù)倫測(cè)量法
CouloScope CMS STEP電解測(cè)厚儀簡(jiǎn)介:
德國(guó)菲希爾涂層測(cè)厚儀CouloScope CMS STEP在電鍍行業(yè)中,對(duì)多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測(cè)定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度,并且給了基材相對(duì)于單鍍層更好的防腐保護(hù)。 COULOSCOPE® CMS STEP多層鎳測(cè)厚儀器根據(jù)庫(kù)侖電量分析法進(jìn)行測(cè)量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
通過(guò)電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
COULOSCOPE® CMS STEP可以通過(guò)定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來(lái)方便地測(cè)出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過(guò)RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
CouloScope CMS STEP電解測(cè)厚儀特性:
吸引人的設(shè)計(jì),大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤(pán)。
操作簡(jiǎn)單,菜單指引的操作提示。
電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層,包括測(cè)量線材。
典型應(yīng)用:
電鍍緊固件
測(cè)試印刷電路板上殘留的純錫含量
鍍鉻浴室配件
測(cè)量常見(jiàn)的單相以及雙相涂層,如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
金屬涂層的準(zhǔn)確測(cè)量厚度品種為0.05 - 50m,不需要預(yù)先設(shè)置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測(cè)量過(guò)程無(wú)關(guān)
測(cè)量印刷電路板上純錫的剩余部分,以確??珊感?br />多層涂層,如鐵/塑料(abs)基板上的CR / NI / CU
電位差測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP
使用5 x 5個(gè)單獨(dú)測(cè)量的測(cè)試區(qū)域校準(zhǔn)測(cè)量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)
作為測(cè)量鍍層厚度zui簡(jiǎn)單的方法之一,庫(kù)侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu), 當(dāng)允許破壞性測(cè) 量時(shí),它提供了一個(gè)比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
很多常見(jiàn)的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了準(zhǔn)確的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi), 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都 是無(wú)關(guān)緊要的。
zui常見(jiàn)的應(yīng)用之一就是測(cè)量線路板上剩余的純錫,以確 ??珊感?。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料(ABS) 基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,也可以用這個(gè)方法進(jìn)行測(cè)量