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篤摯儀器(上海)有限公司
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- 產(chǎn)品型號
- Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
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- 上海市 所在地
訪問次數(shù):1189更新時(shí)間:2024-09-27 09:05:26
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COULOSCOPE CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀
COULOSCOPE® CMS2 STEP
CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能(同時(shí)測定厚度和電位差)。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測試 (根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出, 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2
CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法 (DIN EN ISO 2177)。 簡單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳), 以及各種電解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測量
電解速度和測量面積的簡單選擇 (0.1 ----- 50 μm/min) 和(0.6 ----- 3.2 mm Ø)
電壓曲線圖形顯示
圖形和統(tǒng)計(jì)分析 多語言和計(jì)量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
同時(shí)測量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡單準(zhǔn)備
可調(diào)節(jié)的電解電流
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統(tǒng)概述 一個(gè)測量系統(tǒng)包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個(gè)有測量槽的支架(例如:STEP測量槽)。各種測量臺設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 可選配件 大量的可選配件使測量工作更便利,確保了安全的儲(chǔ)存并為固定工件提供輔助。
校準(zhǔn) 校準(zhǔn)時(shí)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)修正系數(shù) 。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化,需要該修正系數(shù)。