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菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀Couloscope CMS2測(cè)厚儀
菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀Couloscope CMS2測(cè)厚儀

地:德國(guó)原裝進(jìn)口

貨物所在地:上海上海市

更新時(shí)間:2024/4/3 14:17:58

訪問(wèn)次數(shù):104

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個(gè)化:
www.fischerchina.cn
網(wǎng)址:
www.dooz17.com/

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供應(yīng)簡(jiǎn)介
通過(guò)電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。


詳細(xì)介紹

菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀Couloscope CMS2測(cè)厚儀

 

    Benchtop unit for coulometric coating thickness measurement of virtually all metallic coatings on metallic or nonmetallic substrates; of individual layers or multi-layers.

 

特點(diǎn)

  • 庫(kù)侖析法電解鍍層,符合 DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)

  • V18測(cè)量臺(tái)通過(guò)控制氣泵具有自動(dòng)充填和清空測(cè)量槽中電解液功能

  • 大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測(cè)量結(jié)果

  •  

典型應(yīng)用領(lǐng)域

  • 該儀器幾乎可以測(cè)量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。 甚至可以測(cè)量多層鍍層.

  • 測(cè)量幾乎所有金屬鍍層厚度,無(wú)論基材是金屬或非金屬,鍍層也可以是多鍍層。典型的可測(cè)量厚度范圍 0.05 – 40 μm。 也適用于線材上鍍層的測(cè)量

           標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177 ; ASTM B504

            大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏,可顯示文字與圖形:126 * 70 mm   
            可設(shè)置和儲(chǔ)存:50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組;3 000個(gè)數(shù)據(jù)
            統(tǒng)計(jì):平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測(cè)量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
            使用多層菜單和軟鍵,使操作更方便
            RS232 接口可通過(guò)電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
            模擬輸出: 0 ~ -18V
            輸入阻抗: > 2 KΩ
            工作溫度: 10 ℃ ~ 40 ℃
            儀器重量: 6 kg 
            電源: AC 220 V ,50-60 Hz;zui大功耗 ≤ 85 VA 
            尺寸: 350W * 140H * 200D  mm

 

   Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 根據(jù)庫(kù)侖電量分析法進(jìn)行測(cè)量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
    通過(guò)電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

   

COULOSCOPE CMS 

    該多層鎳測(cè)厚儀器根據(jù)庫(kù)侖電量分析法進(jìn)行測(cè)量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)

    

 

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