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Fischer雙功能膜厚檢測儀器
Fischer雙功能膜厚檢測儀器

地:德國

貨物所在地:上海上海市

更新時間:2024/11/6 15:26:07

訪問次數(shù):153

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上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號5號樓311室
化:
www.fischerchina.cn
網(wǎng)址:
www.dooz17.com/

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供應簡介
Fischer雙功能膜厚檢測儀器:為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼,非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數(shù)的擴展內(nèi)存,多達100個可校準應用程序,塊的日期和時間戳,帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。


詳細介紹

Fischer雙功能膜厚檢測儀器

便攜式測量儀器具有集成或可互換的探頭,用于直接在工件上測量涂層厚度。

DualScope FMP40

雙功能FMP40 |該通用型號為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼,非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數(shù)的擴展內(nèi)存,多達100個可校準應用程序,塊的日期和時間戳,帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

•外部按鍵觸發(fā)測量采集
•超過公差限制時的視覺和視覺警告
•選項藍牙或COM附加可用于默認USB接口
測量應用記憶體: -
•多達100個測量應用的應用存儲器,包括 校準
•內(nèi)存多達20,000張讀數(shù)
•將讀數(shù)分配到4,000個塊
•塊的日期和時間戳
•測量應用的通用歸一化/校準
•通過標準測試測量驗證校正校準、

該手持設備用于測量所有金屬上的涂層厚度,即非破壞性。 該儀器具有許多功能,包括自動基板材料識別和圖形測量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項和相關過程能力指標cp和cpk的計算。 如果超過公差設定限制,則可以給出聲音和視覺警告。

該器件配有多種探頭。 它還具有FISCHER DataCenter軟件,便于傳輸和歸檔測量數(shù)據(jù)。 它可以打印報告并提供全面的統(tǒng)計和圖形評估。 該設備適用于汽車工業(yè),油漆制造加工和實驗室等行業(yè)。 它也可以用于測試機構和航空業(yè)。

測量策略與評估:
•根據(jù)IMO PSPC,SSPC-PA2,QUALANOD和QUALICOAT存儲的測量規(guī)格
•相關多點測量的矩陣測量模式
•測量數(shù)據(jù)的平均值
•通過面積測量進行測量采集

典型應用:

DELTASCOPE®用于鋼和鐵的涂層

ISOSCOPE®用于鋁和其他有色金屬涂料
DUALSCOPE®具有自動基板識別和兩種測量技術(磁感應和渦流)的組合; DUALSCOPE可以測量鐵/鋼或非鐵磁金屬和非導電基材上的各種涂層
有色金屬,鐵或鋼的微米范圍內(nèi)的涂層
由有色金屬制成的厚涂層或鋼板上的保護涂層

 

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FMP40型儀器的功能 (相對于FMP10 和FMP20型儀器增加的功能)

儀器功能

• 自動識別底材 (FMP40).

• 外部觸發(fā)測量  (例如:測量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁)

• 使用未知材料的鍍層進行校準(*于磁感應法)

• USB接口可以連接計算機和打印機

• 電池供電和交流電源(可選件)供電

應用程式存儲

• 可以儲存100個應用程式,包括校準信息。

• 可以儲存 20,000 個讀數(shù)

• 可以儲存 4,000 個數(shù)據(jù)組

• 數(shù)據(jù)組包含日期和時間信息

• 糾正已儲存的讀數(shù)

• 應用程式關聯(lián)功能:多個應用程式能使用相同的  歸一化/校準信息

• 通過電腦計算機可以編輯應用程式名稱 (可選件:MP-Name軟件)

統(tǒng)計和計算

• 數(shù)據(jù)組統(tǒng)計值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值

• 測量數(shù)據(jù)直方圖顯示

• 可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

• 測量結果超出公差范圍時儀器發(fā)出視覺和聲音警告

測量方式

• 連續(xù)測量模式下,測量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi)  模擬顯示

• 可使用矩陣測量模式進行大量測量

• 取平均值:只儲存若干個測量數(shù)據(jù)的平均值

• 區(qū)域測量:提起探頭后才儲存測量過程中的平均值

• 自動測量:無需提起探頭,儀器自動獲得數(shù)值

• 離奇值控制:儀器可自動排除錯誤的測量值

 

 

 

 

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