表面電阻率測試儀本儀器既可測量高電阻，又可測微電流。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路以及技術(shù),使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接...

顯像管防爆試驗機(jī)根據(jù)GB8898-2011.18條款制造,將顯像管安裝在試驗箱上,試驗箱應(yīng)置于高出地面75cm±5cm的水平支架上.每只顯像管應(yīng)承受洛...

燈具老化壽命測試架可以設(shè)定多個通斷周期的工作及工作周期的時間設(shè)定；設(shè)備具有斷路檢測、短路檢測等故代檢測功能，并記錄保存故障原因、發(fā)生故障時間及已完成的試驗次數(shù)，...

鎮(zhèn)流器異常狀態(tài)負(fù)載柜適用于家用和類似用途固定式電氣裝置的開關(guān)進(jìn)行通斷能力和正常操作壽命試驗用的試驗設(shè)備，開關(guān)的額定電壓不大于600V，額定電流不大于30A。目的...

插入期間安全測試儀嚴(yán)格依據(jù)GB7000.1-2007標(biāo)準(zhǔn)中第8.2.1章節(jié)試驗要求制作，并且符合標(biāo)準(zhǔn)中第84頁的圖26插入期間安全測試電路要求規(guī)格。

UL1598燈具溫升模擬墻滿足UL1598燈具安全測試標(biāo)準(zhǔn)中第19.11.1章節(jié)，墻壁表面溫度的試驗設(shè)備應(yīng)符合圖19.11.1所示，并按以下進(jìn)行布置：

擺錘沖擊試驗機(jī)符合標(biāo)準(zhǔn)GB2099.1、GB16915.1及IEC60669、IEC60670等相應(yīng)的條款要求，用于考核插頭插座等電器附件外殼的耐沖擊性能。

高速電梯限速器校驗儀是電梯運行安全保護(hù)的重要部件之一，正是因為有了“限速器—安全鉗—緩沖阻尼器"的連鎖控制措施，才使得電梯成為較之其它交通工具更為安全的垂直運輸...

彈簧夾緊試驗裝置滿足IEC 60598-1:2008，GB7000.1-2007中4.14.1章節(jié)的試驗E測試要求，用于彈簧夾緊安裝式燈具的拉力試驗。

DYJ多用基準(zhǔn)鎮(zhèn)流器為測試熒光燈、高壓汞燈、鈉燈、金鹵燈等氣體放電燈的光電參數(shù)，被測氣體放電燈必須工作于標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下，其中***重要的要求就是用與之相匹配的基準(zhǔn)鎮(zhèn)...

概述：*GB17935-2007標(biāo)準(zhǔn)第14.4和19.3章節(jié)中所述的試驗要求用途燈頭。試驗燈頭整體結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，尺寸精準(zhǔn)，采用材質(zhì)耐高溫、耐腐蝕、耐變形能力強(qiáng)。

音視頻產(chǎn)品跌落試驗機(jī)功能概述：驅(qū)動機(jī)構(gòu)驅(qū)動頂桿使支承木板上升至預(yù)定高度，突然高速落下（下落加速度大于9.8）,支承木板自由跌落至木質(zhì)平臺上。該機(jī)配護(hù)欄及高位攔桿...

卷發(fā)器壽命試驗機(jī)概述：本試驗機(jī)根據(jù) IEC60335-2-23、GB4706.15 標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計制做，用于卷發(fā)器的壽命試驗。

試驗探針 GB2099.1-2008基本簡介：1、根據(jù)GB2099.1-2008,GB8898-2008及相關(guān)IEC等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗探針是進(jìn)行家用和...

（帶推力）試驗探針（試具D）基本簡介：1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。2、D...

試驗探棒（試具31）1、根據(jù)IEC61032-1997及GB/16842-2008 （圖14）等相應(yīng)條款制作而成。2、31號試驗探棒（碾磨探棒）主要用于檢驗殘剩...

基本簡介：1、根據(jù)GB4706.1、IEC61032-1997及 UL等相應(yīng)條款制作而成。2、19號兒童試驗彎指（19號試驗探棒）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電...

抗開裂卷繞（熱沖擊）試驗裝置適用于聚氯乙烯電線電纜在高溫條件下的開裂試驗前的卷繞。符合GB/T2951.31.9-2008標(biāo)準(zhǔn)要求。

UL1581電線電纜燃燒試驗機(jī)是嚴(yán)格按照 UL1581 sect 1080.1~1080.14 標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，并得到廣州美華 UL 公司的認(rèn)可，*符合 VW-1 （...

光通維持率及壽命測試系統(tǒng)設(shè)備概述：該系統(tǒng)用于光源及LED模塊光通維持率及壽命測試。