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涂層測(cè)厚儀如何使用才可避免降低誤差

時(shí)間:2021/11/12閱讀:1177

涂層測(cè)厚儀如何使用才可避免降低誤差
在運(yùn)用涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)盡量運(yùn)用被測(cè)材質(zhì)來(lái)作為調(diào)零的基體,以防止因?yàn)椴煌牟馁|(zhì)而致使導(dǎo)磁性不同,而呈現(xiàn)測(cè)量誤差。等到在被測(cè)材質(zhì)的同一部位調(diào)零以后,再實(shí)行一樣部位的測(cè)量,如在側(cè)臉工件邊緣及中間部分時(shí)當(dāng)分別調(diào)零。在應(yīng)用涂層測(cè)厚儀實(shí)行測(cè)量時(shí)還該當(dāng)注意探頭和被測(cè)料面維持垂直,以免發(fā)生大的誤差。若是測(cè)量的同一個(gè)點(diǎn),可將探頭每次都離開(kāi)10公分以上,間隔幾秒后再實(shí)行測(cè)量,以免被測(cè)材質(zhì)探頭磁化而影響測(cè)量結(jié)果。
涂層測(cè)厚儀作為調(diào)零用的外表面須要盡量維持光滑,假如外表面不光滑,該當(dāng)視狀況取平均值,由于外表面粗糙度對(duì)測(cè)量的數(shù)值影響較大。構(gòu)造不同應(yīng)分別實(shí)行調(diào)零測(cè)量,平面調(diào)零側(cè)臉平面,測(cè)量凹面調(diào)零后測(cè)量,測(cè)量凸面調(diào)零后實(shí)行測(cè)量,防止因?yàn)闃?gòu)造不同而在測(cè)量上發(fā)生誤差。

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