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篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統(tǒng)方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。 |
elektrophysik測厚儀德國EPK MiniTest 730優(yōu)點一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內置換為外置）
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統(tǒng)計值能單獨調出
-超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件
涂層測厚儀技術數據表
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
信號處理 | 探頭內部32位信號處理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑（凹，內置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | |||||
單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個讀數 | |||||
主機
型號 特性 | MiniTest 720 | MiniTest 730 | MiniTest 740 |
探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 |
數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 |
存儲數據量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 |
統(tǒng)計值 | 讀值個數，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置） | ||
校準程序符合標準和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節(jié)補償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數據接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內置）/230g（外置） |