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德國(guó)*ElektroPhysik測(cè)厚儀FH7200*批發(fā)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):

品       牌: ElektroPhysik/德國(guó)EPK

廠(chǎng)商性質(zhì):代理商

所  在  地:上海市

更新時(shí)間:2023-11-06 19:29:22瀏覽次數(shù):847

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德國(guó)*ElektroPhysik測(cè)厚儀FH7200*批發(fā):MiniTest 7200是便攜式的厚度測(cè)量工具,可準(zhǔn)確測(cè)量厚達(dá)10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進(jìn)行簡(jiǎn)單,無(wú)損,高精度的厚度測(cè)量,無(wú)論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角,小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測(cè)量工具。

德國(guó)*ElektroPhysik測(cè)厚儀FH7200*批發(fā)

適用于非磁性材料的測(cè)量 ;測(cè)量厚度高達(dá)10mm ;是復(fù)雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測(cè)量工具 ;用戶(hù)菜單控制界面 ;上下文關(guān)聯(lián)的在線(xiàn)幫助 ;統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制功能 
霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀高度厚度測(cè)量 
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便攜式的厚度測(cè)量工具,可準(zhǔn)確測(cè)量厚達(dá)10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進(jìn)行簡(jiǎn)單,無(wú)損,高精度的厚度測(cè)量,無(wú)論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角,小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測(cè)量工具。


霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH標(biāo)準(zhǔn)配置 :     推薦配置 

-主機(jī)和可選探頭                                          -數(shù)據(jù)打印機(jī)MiniPrint7000含充電器 
-校準(zhǔn)鋼珠                                             -打印機(jī)連接線(xiàn) 
-操作說(shuō)明CD                                          -NiMH蓄電池快速充電器 
-速查卡                                             -腳踏開(kāi)關(guān) 
-4節(jié)AA電池                                            -MSOFT7000數(shù)據(jù)傳輸軟件 
-塑料手提箱 
-橡膠保護(hù)套

 

可選探頭:

型號(hào)

晶體直徑

頻率

測(cè)量范圍

工作溫度

簡(jiǎn)介

EP8E

8MM

5.0MHZ

3-25MM(E-E)

0.8-300MM(T-E)

-12+60

400B標(biāo)配探頭,400B*探頭,具有透過(guò)涂層測(cè)量模式。zui小測(cè)量管外徑20mm

EP4

4MM

10.0MHZ

0.65-20MM

-12+60

小管徑探頭。zui小測(cè)量管外徑10mm

EP6

6MM

7.5MHZ

0.65-50MM

-12+60

主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量. zui小測(cè)量管外徑15mm

EP8

8MM

5.0MHZ

0.8-350MM

-12+60

400,400A標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測(cè)量管外徑20mm

ECP12

12MM

2.0MHZ

2.0-500MM

-12+60

粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量。zui小測(cè)量管外徑30mm

EHP13

13MM

5.0MHZ

3.0-200MM

-12+350

高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350的材料的測(cè)量,

注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S。zui小測(cè)量管外徑25mm

 

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