篤摯儀器(上海)有限公司

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測(cè)厚儀-EPK無損檢測(cè)厚度行業(yè)的*

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):MiniTest 4100

品       牌: ElektroPhysik/德國(guó)EPK

廠商性質(zhì):代理商

所  在  地:上海市

更新時(shí)間:2023-11-08 12:15:43瀏覽次數(shù):731

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測(cè)量精度高,重復(fù)性好,具有自動(dòng)基板檢測(cè)的通用探頭允許鋼和有色金屬的快速測(cè)量,探頭耐磨且有多種型號(hào)和功能的探頭可選,是MiniTest 4100測(cè)厚儀的突出優(yōu)點(diǎn)。該儀器還會(huì)根據(jù)需提供功能特殊的探頭型號(hào):溫度高達(dá)250°C和350°C適用的耐熱探頭和在潮濕地區(qū)使用的*密封探頭。
MiniTest 4100測(cè)厚儀-EPK無損檢測(cè)厚度行業(yè)的*。

MiniTest 4100測(cè)厚儀-EPK無損檢測(cè)厚度行業(yè)的*

測(cè)量精度高,重復(fù)性好,具有自動(dòng)基板檢測(cè)的通用探頭允許鋼和有色金屬的快速測(cè)量,探頭耐磨且有多種型號(hào)和功能的探頭可選,是MiniTest 4100測(cè)厚儀的突出優(yōu)點(diǎn)。該儀器還會(huì)根據(jù)需提供功能特殊的探頭型號(hào):溫度高達(dá)250°C和350°C適用的耐熱探頭和在潮濕地區(qū)使用的*密封探頭。

60多年來,ElektroPhysik已經(jīng)開發(fā)和生產(chǎn)了一系列用于表面處理的精密測(cè)量?jī)x器。作為無損涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域的,ElektroPhysik與和標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu),研究機(jī)構(gòu)和大學(xué)合作已成功推進(jìn)了涂層厚度測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)化。許多強(qiáng)調(diào)了ElektroPhysik作為制造商的地位。MiniTest 4100測(cè)厚儀-EPK無損檢測(cè)厚度行業(yè)的*。

篤摯儀器(上海)有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值——Focus On Better Quality”為宗旨,專注于計(jì)量檢測(cè)和材料分析設(shè)備的研究、引進(jìn)與推廣,公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計(jì)、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測(cè)等各方面顯著提升效率和可靠性。

產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭
  • 具有幾乎無限壽命的耐磨探頭
  • 測(cè)量值的存儲(chǔ)與評(píng)估
  • 特殊的粗糙表面和校準(zhǔn)標(biāo)定函數(shù)未知涂層(CTC方法)
  • 所有的探頭都配備了耐磨桿,確保使用壽命長(zhǎng),也適用于磨料基板。
  • 所有型號(hào)均可配所有探頭
  • 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)
  • 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

 

  1. 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))99
  2. 每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)99
  3. 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)500
  4. 數(shù)據(jù)總量10000個(gè)
  5. 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
  6. 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù) 

 

其他功能

  • 設(shè)置極限值
  • 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值
  • 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
  • 連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值

 

探頭
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

MiniTest 4100。   

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