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GalvanoTest 庫倫法測厚儀產(chǎn)品信息
測量原理：
基于法拉第定律的原理，GalvanoTest執(zhí)行樣品的限定區(qū)域的電解溶解。 測量單元填充有特別適合于所選擇的涂層/基底組合的電解質(zhì)。 將測量池放置在測試樣品上。 插入電池和測試樣品之間的墊圈防止溶液流出，同時地確定待去電鍍的區(qū)域，例如。 1 mm2。 設(shè)備現(xiàn)在可以使用，可以插入電子測量儀。 通過電解質(zhì)的電流使用電化學反應溶解涂層的預定區(qū)域。 一旦蝕刻完成，電壓的特性變化自動停止除鍍過程，并且涂層厚度以微米或密耳顯示在數(shù)字顯示器
上。
德國EPK （Elektrophysik）公司GalvanoTest 2000庫倫測厚儀利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層厚度。
可以測量70種以上鍍層/基體組合
可以測量平面、曲面上的鍍層
可以測量小零件、導線、線狀零件
預置9種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù)
EPK GalvanoTest 庫倫法測厚儀，通用涂層測厚儀：
•幾乎測量任何電鍍涂層/基底組合
•適用于單層和多層涂層
•使用庫侖法原理，符合DIN 50 955和ISO 2177的去鍍方法也適用于0.05微米的極薄涂層
庫侖或陽極去鍍技術(shù)用于測量幾乎所有基材如鋼，有色金屬或絕緣材料基材上的電鍍涂層的厚度。 典型應用包括：鋼上鎳，鋼上鋅，銅錫，銀銅或環(huán)氧樹脂。
該技術(shù)簡單地涉及去除涂層材料的小的，幾乎不可見的區(qū)域。 襯底不受影響。 庫侖法確?？煽亢偷慕Y(jié)果。 EPK GalvanoTest 庫倫法測厚儀設(shè)計為*易用，GalvanoTest不需要特定的操作員技能，只有少的培訓才能進行實際測量。 庫侖法原理是測量多層系統(tǒng)的各個層的低成本方法，例如鉻和鎳加銅在鋼上一個接一個地測量。 連接到MiniPrint數(shù)據(jù)打印機，GalvanoTest提供測量結(jié)果和統(tǒng)計的完整文檔。 對于特定的測量分析或以后的參考，也可以打印去鍍過程中的特征電壓曲線
•可測實際應用的所有鍍層
•利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層
•符合標準：DIN EN ISO 2177
電解測厚法：不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理德國EPK Elektrophysik磁感應測厚儀、渦流測厚儀、超聲波測厚儀、霍爾效應測厚儀、庫倫法測厚儀、麥考特測厚儀等等，篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚資源的合作品牌一起，以共同對計量及試驗技術(shù)的專注和專業(yè)，致力于在質(zhì)量檢測領(lǐng)域，為客戶提供區(qū)域化和廣泛的服務(wù)，確保操作和維護儀器的總體有效性和成本佳化，增強您測量和檢測的可靠性和性能。歡迎留言或！