MiniTest 720測(cè)厚儀上海代理專業(yè)供貨
主要特征:
-SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
標(biāo)準(zhǔn)配置: 帶塑料手提箱,內(nèi)含:
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
-或MINITEST 730(外置探頭)
-或MINITEST740主機(jī)(不含探頭,有各種探頭可選)
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
推薦配件: -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架
德國Elektrophysik產(chǎn)品 MiniTest 720涂層測(cè)厚儀不同于同系列的產(chǎn)品730和740,是內(nèi)置探頭。 MiniTest 720涂層測(cè)厚儀采用了創(chuàng)新的SIDSP技術(shù),產(chǎn)品按照人體工學(xué)設(shè)計(jì),外形很適合人手掌握,配有一個(gè)超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便任意角度讀取數(shù)據(jù)。儀器還具備聲、光報(bào)警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。顯示讀值個(gè)數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)還有rDA 1.0(紅外接口)
MiniTest 720測(cè)厚儀上海代理專業(yè)供貨
SIDSP®創(chuàng)新的傳感器技術(shù):
SIDSP®是良好的涂層厚度傳感器由ElektroPhysik開發(fā)的。有了這項(xiàng)新技術(shù),ElektroPhysik創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量的另一個(gè)新*。 ( MiniTest 720測(cè)厚儀用于產(chǎn)品質(zhì)量控制和檢測(cè))
在其中信號(hào)*處理成數(shù)字形式,在傳感器內(nèi)部的技術(shù)。 與常規(guī)技術(shù)不同,SIDSP®傳感器和控制內(nèi)部的傳感器的傳感器頭的激勵(lì)信號(hào)。返回信號(hào)直接轉(zhuǎn)換成數(shù)字,并在32位精度處理,給你完整的涂層厚度值。對(duì)于該技術(shù)中,均采用了高度復(fù)雜的數(shù)字信號(hào)處理方法。這使迄今實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的質(zhì)量和精度的模擬信號(hào)處理,EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的性能。
探頭類型:
探頭 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測(cè)量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | |||||
度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
單值模式下zui大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) |