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EPK Minitest 2100膜厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號:

品       牌: ElektroPhysik/德國EPK

廠商性質(zhì):代理商

所  在  地:上海市

更新時間:2023-11-10 11:43:46瀏覽次數(shù):967

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件
EPK Minitest 2100膜厚儀
德國EPK Minitest 2100測厚儀涂鍍層測厚儀,是便攜式、無損、快速、測量覆層厚度的精密儀器。所有讀數(shù)自動記入統(tǒng)計程序。測厚儀有兩種統(tǒng)計程序。一種是讀數(shù)統(tǒng)計,一種是組統(tǒng)。
應(yīng)用于測量鋼鐵基體上的非磁性覆層、有色金屬上的絕緣覆層和絕緣基體上的有色金屬覆層等。測厚儀上電后即可用于測量。

EPK Minitest 2100膜厚儀

 

涂層測厚儀:

涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。

涂層測厚儀具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);

具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);

設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)

涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。

2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。

德國EPK Minitest 2100測厚儀涂鍍層測厚儀,是便攜式、無損、快速、測量覆層厚度的精密儀器。所有讀數(shù)自動記入統(tǒng)計程序。測厚儀有兩種統(tǒng)計程序。一種是讀數(shù)統(tǒng)計,一種是組統(tǒng)。

應(yīng)用于測量鋼鐵基體上的非磁性覆層、有色金屬上的絕緣覆層和絕緣基體上的有色金屬覆層等。測厚儀上電后即可用于測量。

 

EPK Minitest 2100膜厚儀

MINITEST2100型的存儲器陣列可自動存儲10,000個以上讀數(shù)。數(shù)據(jù)可打印和統(tǒng)計評估。

  • 適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭
  • 具有自動基板檢測的通用探頭允許鋼和有色金屬的快速測量
  • 具有幾乎無限壽命的耐磨探頭
  • 測量精度高,重復(fù)性好
  • 測量值的存儲與評估
  • 特殊的粗糙表面和校準(zhǔn)標(biāo)定函數(shù)未知涂層(CTC方法)
  • 所有的探頭都配備了耐磨桿,確保使用壽命長,也適用于磨料基板。

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī);可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。刪除操作必須在測讀后,下一次測讀前完成。

 

2100型測厚儀,根據(jù)測頭類型的不同,分別運用磁感應(yīng)和渦流原理測量覆層厚度,并符合以下工業(yè)標(biāo)準(zhǔn): 
DIN 50981、50982、50984;ASTM B499、B244;ISO 2178、2360;BS 5411。 
DIN 50981和50984已經(jīng)被DIN EN ISO 2178和DIN EN ISO 2360所代替。

基本操作設(shè)置:

  • 選擇測量單位: 公制 / 英制
  • 自動關(guān)機(jī)與非自動關(guān)機(jī)的選擇
  • 浮點小數(shù)和定點小數(shù)的選擇
  • 單值和批組統(tǒng)計之間的轉(zhuǎn)換
  • 數(shù)據(jù)存儲的人工和自動模式之間的轉(zhuǎn)換 
  • 單次測量和連續(xù)測量模式的轉(zhuǎn)換
  • 連續(xù)模式中,測量穩(wěn)定后數(shù)據(jù)才被顯示和存儲,連續(xù)模式有利于測量材料厚度。 
  • 背景光照明選擇(可選) 在連續(xù)模式下,保留小測量值

 

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