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minitest735技術(shù)資料
MiniTest 735及 帶外置探頭結(jié)合了精度高、易于測量。該有線探頭可以很方便的測量難以夠到的地方。該測厚儀有助于對鐵磁基板上的非磁性材料和絕緣涂層進(jìn)行無損涂層測量。 該配置帶有一個(gè)外部F5型探頭，其測量范圍為5.0毫米/ 200mils。minitest735技術(shù)資料包括主機(jī)技術(shù)參數(shù)和探頭技術(shù)參數(shù)。
ElektroPhysik MiniTest 735 F5代理供應(yīng)：
MiniTest 735符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，其圓形形狀使MiniTest儀器完美地適合您的手掌。 它還具有測量速度設(shè)置選項(xiàng)，可以根據(jù)不斷變化的要求進(jìn)行調(diào)整，以實(shí)現(xiàn)更高的效率和更好的生產(chǎn)率：在短時(shí)間內(nèi)以中等精度獲取多個(gè)讀數(shù)，或者以更高的精度僅獲取幾個(gè)讀數(shù)。它有助于無損測量鐵磁性基材（鋼）上的非磁性涂層（油漆，合成材料，鉻等），以及導(dǎo)電基材（鋁）上的絕緣涂層（清漆，搪瓷，合成材料，陽極氧化鋁等）。 ，銅，奧氏體不銹鋼）。其預(yù)定義的校準(zhǔn)方法可完美適應(yīng)各種不同的表面條件和精度要求，因此其傳感器可完美補(bǔ)償不規(guī)則形狀的表面。
適用于MiniTest 735的SIDP®探頭
SIDSP®是涂層厚度傳感器的*技術(shù)。借助這項(xiàng)新技術(shù)，為創(chuàng)新的涂層厚度測量樹立了另一個(gè)新的基準(zhǔn)。 SIDSP®代表傳感器集成的數(shù)字信號處理–一種在測量的時(shí)間和點(diǎn)將信號在傳感器內(nèi)部*處理成數(shù)字形式的技術(shù)。 SIDSP®傳感器是根據(jù)全新的*新生產(chǎn)技術(shù)制造的。
與傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP®傳感器為傳感器內(nèi)部的傳感器頭創(chuàng)建和控制激勵(lì)信號。返回信號直接進(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換并以32位精度進(jìn)行處理，以提供完整的涂層厚度值。對于這種技術(shù)，使用了現(xiàn)代電信技術(shù)（移動**網(wǎng)絡(luò)）中已知的高度復(fù)雜的數(shù)字信號處理方法，例如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均，隨機(jī)分析等。這使用戶可以實(shí)現(xiàn)信號質(zhì)量和迄今為止，精度是模擬信號處理所*的。厚度值通過傳感器電纜數(shù)字傳輸?shù)斤@示單元。在涂層厚度測量方面樹立了新的標(biāo)準(zhǔn)，與常用的模擬傳感器相比，該技術(shù)具有決定性的優(yōu)勢和改進(jìn)。
MiniTest 735測厚儀的實(shí)際應(yīng)用
minitest735技術(shù)資料 主機(jī)技術(shù)參數(shù)：
兩用測頭 | FN探頭自動識別基體材料 |
據(jù)存儲 | 10 個(gè)批組，*多 10,000 個(gè)讀數(shù) (MiniTest 725 和 735) |
統(tǒng)計(jì)評估 | 讀數(shù)個(gè)數(shù), *小值, *大值, 平均值, 標(biāo)準(zhǔn)方差, 變異系數(shù), 單值統(tǒng)計(jì), 組塊統(tǒng)計(jì) (符合規(guī)范 / 自由配置) |
校準(zhǔn)模式 | 出廠校準(zhǔn), 零點(diǎn)校準(zhǔn), 2點(diǎn)校準(zhǔn), 3點(diǎn)校準(zhǔn), 粗糙校準(zhǔn)方式"rough" |
限值監(jiān)控 | 輸出視覺和聽覺信號 |
測量單位 | 公制 (µm, mm, cm) 和英制 (mils, inch, thou) |
測量速度 | 每分鐘70 個(gè)讀數(shù)在單值模式下 |
溫度 | 工作溫度：-10 °C~ 60 °C；存儲溫度：-20 °C~ 70 °C |
數(shù)據(jù)接口 | USB 和 藍(lán)牙 |
電源 | 2 個(gè)AA (5號)電池; 可選可充電鎳氫電池, AA/HR6型。 |
規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840, ASTM B 244, B 499, D7091, E 376, AS 3894.3, SS 1841 60, SSPC-PA 2 |
探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表：
測量原理 | 探頭型號: | 類型: | 測量范圍: | Uncertainty | Minimum |
磁感應(yīng)測頭 | F0.5M-0 | A | 0 ... 0.5 mm | ± (0.5 µm + 0.75 %) | Ø 3 mm |
F1.5 | B / E | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F1.5-90° | C | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F2 | B / E | 0 ... 2.0 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
F2.6 | B / E | 0 ... 2.6 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F5 | B / E | 0 ... 5.0 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
F15 | D | 0 ... 15 mm | ± (5.0 µm + 0.75 %) | Ø 25 mm | |
渦流測頭 | N0.7 | B / E | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm |
N0.7-90° | C | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
N2.5 | B / E | 0 ... 2.5 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
N7 | D | 0 ... 7.0 mm | ± (5.0 µm + 0.75 %) | Ø 20 mm | |
雙功能測頭 | FN1.5 | B / E | F: 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm |
FN1.5-90° | C | F: 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
FN2.6 | B / E | F: 0 ... 2.6 mm | ± (1.0 µm + 0,75 %) | Ø 5 mm | |
FN5 | B / E | F: 0 ... 5.0 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm
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