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[供應(yīng)]菲爾希x-ray xdlm237

貨物所在地:上海上海市

更新時(shí)間:2024-12-16 09:09:46

有效期:2024年12月16日 -- 2025年3月18日

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德國(guó)Elektrophysik測(cè)厚儀
英國(guó)Taylor Hobson泰勒粗糙度儀
德國(guó)Fischer菲希爾
英國(guó)易高Elcometer測(cè)厚儀
德國(guó)馬爾 Mahr
德國(guó)尼克斯QNix
日本三豐
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)
德國(guó)BYK
美國(guó)FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
上海尚材 SCTMC
北京時(shí)代 TIME
瑞士Wyler
美國(guó)狄夫斯高
美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)
森薩帕特Sensopart
英國(guó)雷尼紹
瑞士TRIMOS
德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾
英國(guó)牛津Oxford
美國(guó)雷泰 Raytek
美國(guó)Fluke 福祿克
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
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菲爾希x-ray xdlm237
XDLM測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)常用來(lái)測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起,測(cè)量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。

菲爾希x-ray xdlm237

 

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測(cè)厚和材料分析儀:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管,可以測(cè)量細(xì)小的部件,對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外,XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵(lì)條件。

兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測(cè)器。即使對(duì)于很小的測(cè)量點(diǎn),由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XUM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測(cè)量測(cè)量方向從.上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī),使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板,各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品,當(dāng)測(cè)量門開啟時(shí),XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到加載位置,同時(shí)激光點(diǎn)指示測(cè)量點(diǎn)位置。對(duì)于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測(cè)量室空間很大,樣品放置方便, 儀器不僅可以測(cè)量 平面平整的物體,也可以測(cè)量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm)。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器,測(cè)量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測(cè)量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

特征:

      。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。
      。*高工作條件:50KV,50W
      。X射線探測(cè)器采用比例接收器
      。準(zhǔn)直器:固定或4個(gè)自動(dòng)切換,0.05 x0.05 mm到00.3 mm
      ?;緸V片:固定或3個(gè)自動(dòng)切換
      。測(cè)量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
      。固定樣品支撐臺(tái),手動(dòng)XY工作臺(tái)
      。攝像頭用來(lái)查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置。
      ??潭染€經(jīng)過(guò)校準(zhǔn),顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
      。設(shè)計(jì)獲得許可, 防護(hù)全面,符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:

      。大批量電鍍件測(cè)量
      。防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
      。電鍍行業(yè)樓液分析
      。線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
      。測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
      。電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測(cè)量
      。黃金,珠寶和手表行業(yè)

 

 電鍍液成分分析:Cu, Ni, Au (g/l

電鍍液成分分析:Cu, Ni, Au (g/l)

 

PCB測(cè)量: Au/Ni/Cu/PCB

PCB測(cè)量: Au/Ni/Cu/PCB

應(yīng)用實(shí)例:

    XDLM測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)常用來(lái)測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起,測(cè)量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測(cè)量橢圓形樣品時(shí),就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得*大的信號(hào)強(qiáng)度。

 

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