產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)縮短檢查用時(shí),提高檢查效率自動(dòng)聚焦附件透射光檢查照明的自動(dòng)聚焦附件可配合所有的反射光照明觀察方式,甚至包括暗視場(chǎng)和微分干涉相襯觀察。實(shí)現(xiàn)快速和精確的自動(dòng)對(duì)焦,甚至觀察方式轉(zhuǎn)換時(shí)也能實(shí)時(shí)準(zhǔn)確的找到焦面。兩種照明裝置可選,通用型及高數(shù)值孔徑型。為FPD,MASK板檢查提供合適的照明,并且可配備起偏鏡,實(shí)現(xiàn)投射光簡(jiǎn)易偏光觀察。高反差,更高分辨率,更高倍率檢查用于光刻膠殘留檢查的熒光觀察方式熒光分光鏡模塊 UV光學(xué)系統(tǒng)可以提供更高的反差和分辨率,分辨率可達(dá)0.12μm。
備有U.B.G等多種熒光方式可選,用于光顆膠殘留以及OLED檢查。方便的通訊接口用于顯微鏡倍率和孔徑光闌的控制和參數(shù)獲得 RS232C用于晶圓以及器件,甚至焊腳的內(nèi)部檢查近紅外線觀察附件標(biāo)配包括一個(gè)RS232C接口,使得用PC控制顯微鏡電動(dòng)部分成為可能,并且可以實(shí)現(xiàn)使工藝線上的幾臺(tái)顯微鏡都在同樣的設(shè)定狀態(tài)下工作。包括專(zhuān)門(mén)的紅外物鏡等附件,對(duì)從可見(jiàn)光到近紅外波段光線的像差做矯正,用于IC深層或內(nèi)部檢查,可實(shí)現(xiàn)對(duì)WAFER BUMP的全面檢查自動(dòng)線寬CD測(cè)量附件以亞像素技術(shù)實(shí)現(xiàn)高度精確的CD測(cè)量,