年終盤點(diǎn)之廣品高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)外開花加速產(chǎn)業(yè)整合

年終盤點(diǎn)之廣品高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)外開花加速產(chǎn)業(yè)整合

 專心致力于溫度、濕度、光照、鹽霧腐蝕等試驗(yàn)環(huán)境的人工模擬，環(huán)測(cè)試驗(yàn)設(shè)備的制造者

上海廣品試驗(yàn)設(shè)備制造有限公司，是國內(nèi)真正專業(yè)制造環(huán)境測(cè)試類試驗(yàn)設(shè)備的生產(chǎn)廠家，真正做到全數(shù)控機(jī)床加工，外形結(jié)構(gòu)美觀大氣，控制技術(shù)嚴(yán)格精密，真正符合相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GP/T系列廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等試驗(yàn)樣品做高低溫例行試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)、高低溫交變?cè)囼?yàn)、低溫儲(chǔ)存，以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品的性能、行為作出分析及評(píng)價(jià)。

高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)

?新一代外觀設(shè)計(jì)，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，技術(shù)指標(biāo)更穩(wěn)定，運(yùn)行更可靠，維護(hù)更方便，備有高檔萬向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)

?超大觸摸屏搖表式操作，外觀更加簡(jiǎn)潔大方，操作更加容易

?真空雙層玻璃：大視窗設(shè)計(jì)，飛利浦高亮度照明，加熱無霧氣

?為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng)，記錄量大：SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦連接打印，大倉有紙無紙記錄等選配

?可靠性高：主要配件選配*專業(yè)廠商，保證提高整機(jī)可靠性

年終盤點(diǎn)之廣品高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)外開花加速產(chǎn)業(yè)整合

高低溫試驗(yàn)箱的型號(hào)規(guī)格：

型號(hào)：GP/OZ-100  工作室尺寸：400x450x550  外形尺寸：920x940x1680

型號(hào)：GP/OZ-150  工作室尺寸：500x500x600  外形尺寸：1030x1010x1720

型號(hào)：GP/OZ-225  工作室尺寸：500x600x750  外形尺寸：1100x1030x1880

型號(hào)：GP/OZ-250  工作室尺寸：550x630x780  外形尺寸：1140x1120x1950

型號(hào)：GP/OZ-300  工作室尺寸：600x600x800  外形尺寸：1190x1100x1950

型號(hào)：GP/OZ-500  工作室尺寸：700x800x900  外形尺寸：1250x1300x2030

型號(hào)：GP/OZ-800  工作室尺寸：800x1000x1000 外形尺寸：1290x1500x2140

型號(hào)：GP/OZ-010  工作室尺寸：1000x1000x1000外形尺寸：1490x1500x2140

高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：00~150℃、-20~150℃、-40~150℃、-50~150℃、-60~150℃、-70~150℃、-100~150℃（按試驗(yàn)要求選定）

電   源：220v/4.5kw或者380v/5.5kw

 溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

溫度均勻度：≤±2℃

降溫速率：0.7～1℃/min

升溫速率：2～3℃/min

快速溫度變化試驗(yàn)箱：快速降溫3~5℃/min，快速升溫3~5℃/min

噪音Noise（dB）：≤65  （以上均為空載）

使用環(huán)境溫度：+5~+35℃(降溫環(huán)境溫度+5~+28℃*)

安全：短路保護(hù)、超溫保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、漏電保護(hù)、操作人員安全保護(hù)、試件保護(hù)

執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

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