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[供應(yīng)]天星渦流測厚儀ED400

貨物所在地:上海上海市

產(chǎn)地:沈陽天星

更新時間:2024-08-19 09:59:27

有效期:2024年8月19日 -- 2025年2月17日

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天星渦流測厚儀ED400是ED300渦流測厚儀的改進型,ED400性能大幅度提升,上海京工專業(yè)銷售各類渦流測厚儀并負責(zé)儀器的售后與維修,多年銷售經(jīng)驗積累為您提供高效優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

天星渦流測厚儀ED400

天星渦流測厚儀ED400(也稱涂層測厚儀、氧化膜測厚儀)適用于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。渦流測厚儀ED400采用磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如:鋼、鐵、鎳)上非磁性覆層的厚度(如:鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等),本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測領(lǐng)域。

<strong><strong><strong><strong><strong></strong></strong></strong></strong></strong>

技術(shù)參數(shù):
測量范圍:     0~500μm

測量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%

分辨率:     0~50μm:0.1μm、
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可選)

使用溫度:     5~45℃

外形尺寸:     150mm×80mm×30mm

重      量:     260g

 

渦流測厚儀ED400配置與選配:

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機            1臺
探頭            1支
基體            1塊(6063合金)
校正箔片      1片(約50μm,附檢測報告)
使用說明書              1份
合格證            1份
保修單           1份   
手提式儀器箱1個

可選附件

備用探頭
基體
校正箔片(約50μm,附檢測報告)

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