詳細(xì)摘要： 瑞士Zehntner ZRM 6013+標(biāo)線逆反射系數(shù)測(cè)量?jī)x適合交通機(jī)關(guān)、施工廠商、路標(biāo)漆制造。管理路面標(biāo)線品質(zhì)、耐用年限、工程驗(yàn)收。

詳細(xì)摘要： 瑞士Zehntner ZRM 6006標(biāo)線逆反射系數(shù)測(cè)量?jī)x適合交通機(jī)關(guān)、施工廠商、路標(biāo)漆制造。管理路面標(biāo)線品質(zhì)、耐用年限、工程驗(yàn)收。

詳細(xì)摘要： 瑞士Zehntner ZRM 6014標(biāo)線逆反射系數(shù)測(cè)量?jī)x適合交通機(jī)關(guān)、施工廠商、路標(biāo)漆制造。管理路面標(biāo)線品質(zhì)、耐用年限、工程驗(yàn)收。

詳細(xì)摘要： CY-1000A長(zhǎng)余輝熒光粉光色性能測(cè)試系統(tǒng)采用CIE 45/0°激發(fā)/觀測(cè)條件。被測(cè)樣品經(jīng)激發(fā)光源照射激發(fā)一段時(shí)間后，由亮度計(jì)測(cè)量樣品的發(fā)光亮度、余...

詳細(xì)摘要： CY-1000B 蓄光型熒光材料特性測(cè)試系統(tǒng)采用CIE 45/0°激發(fā)/觀測(cè)條件。被測(cè)樣品經(jīng)激發(fā)光源照射激發(fā)一段時(shí)間后，由亮度計(jì)測(cè)量樣品的發(fā)光亮度、余...

詳細(xì)摘要： Zehntner ZRS 6060逆反射測(cè)量?jī)x代表了新一代的人體工程學(xué)逆反射測(cè)量?jī)x，用于確定夜間能見(jiàn)度（逆向反射系數(shù)RA和R'）。Zehntner ZRS 60...

詳細(xì)摘要： Everfine HAM-200霧度計(jì)采用高精度光度探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)380-780nm波段的光度匹配。系統(tǒng)主要用于材料透光率，霧度測(cè)試，一體化設(shè)計(jì)，夾持樣品的空間大...

詳細(xì)摘要： Everfine HAM-200霧度計(jì)主要用于塑料、薄膜、玻璃、LCD面包以及液體等的總透光率、霧度、散射透光率等的測(cè)量，符合ASTM D1003、GB/T24...

詳細(xì)摘要： EVERFINE TR-5000材料反射和透射測(cè)試系統(tǒng)?用于測(cè)量各類薄膜、玻璃以及鏡片等的可見(jiàn)光透射比、紫外線透射比、太陽(yáng)光透射比、可見(jiàn)光反射比，及材料的光譜透...

詳細(xì)摘要： Everfine HAM-300高精度光譜霧度計(jì)主要用于材料透光率、霧度以及材料在特定光源下光色性能測(cè)試，一體化設(shè)計(jì)，夾持樣品的空間大，滿足不同尺寸樣品的測(cè)試需...

詳細(xì)摘要： TR-2000透射測(cè)試系統(tǒng)符合ASTM D1003, JC/T 2130, GB/T 2410等標(biāo)準(zhǔn)的要求，主要用于移動(dòng)電子產(chǎn)品面板、蓋板玻璃、薄膜和塑料材料的...

詳細(xì)摘要： BBMS-2000雙向反射/透射空間分布測(cè)量系統(tǒng)可分析測(cè)量材料表面的反射、透射特性，可測(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布（BTDF）、雙向反射分布（BRDF）、反射比...

詳細(xì)摘要： Gamma Scientific GS-1290 NVIS分光輻射度計(jì)是一款高速光譜輻射計(jì)，它將背面薄型CCD探測(cè)器靈敏度前沿技術(shù)與Gamma Scientif...

詳細(xì)摘要： DigiColor非接觸式多光譜顏色測(cè)量分析系統(tǒng)采用突破性的多光譜成像測(cè)量方式獲得被測(cè)量樣品的顏色影像和紋理細(xì)節(jié)，記錄樣品每一個(gè)像素點(diǎn)的顏色數(shù)據(jù)，色差數(shù)據(jù)由捕獲...

詳細(xì)摘要： Nanosystem NVF-2700 非接觸式3D輪廓儀，通過(guò)非接觸式的方法對(duì)0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測(cè)量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺(tái)可方便的進(jìn)...

詳細(xì)摘要： NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學(xué)輪廓儀為L(zhǎng)CD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Enginee...

詳細(xì)摘要： Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀通過(guò)非接觸式的方法對(duì)0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測(cè)量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺(tái)可方便的進(jìn)行放大...

詳細(xì)摘要： Nanosystem NV-2700 非接觸式3D輪廓儀，通過(guò)非接觸式的方法對(duì)0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測(cè)量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺(tái)可方便的進(jìn)行...

詳細(xì)摘要： NanoSystem NVM-6000P表面形貌測(cè)量系統(tǒng)測(cè)為L(zhǎng)CD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Enginee...

詳細(xì)摘要： Labview QC T60+標(biāo)準(zhǔn)光源箱采用高顯色能力的標(biāo)準(zhǔn)光源，提供逼真的人工仿真自然日光的燈管，紫外燈管可以和其它光源配合使用，以準(zhǔn)確判斷含有熒光增白劑的樣...