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高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)
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  • 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)

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貨物所在地: 浙江杭州市
更新時(shí)間: 2025-01-21 21:38:46
期: 2025年1月21日--2026年1月21日
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產(chǎn)品簡介

高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)可以在任意電壓激勵下的介電響應(yīng)測試,根據(jù)需要自定義輸出任意電壓波形,滿足對不同條件下不同絕緣材料不同方面的測試需求,更好地適應(yīng)用戶需求。

詳細(xì)介紹

高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)測試原理

系統(tǒng)由工控機(jī)發(fā)出指令,單片機(jī)控制FPGA發(fā)出測量波形,FPGA一路信號控制不同頻率幅值的信號,由高壓放大器對電壓進(jìn)行放大后,施加在樣品上,另一路施加在鎖相放大器作為參考信號,不同頻率幅值的高壓信號加載樣品上,采集后的信號,再回傳FPGA測試板卡。測量的數(shù)據(jù)再由單片機(jī)回傳工控機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,實(shí)現(xiàn)從低頻到高頻信號的輸出與測量。

系統(tǒng)使用真正的 AC DFR(介電頻率響應(yīng)),保持出色的準(zhǔn)確性和提供可靠數(shù)據(jù)的能力,可在高干擾環(huán)境中獲得可靠的測試結(jié)果。 該軟件使測試既簡單又快捷,它可在進(jìn)行不同溫度,頻率下測量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)。

系統(tǒng)可以在任意電壓激勵下的介電響應(yīng)測試根據(jù)需要自定義輸出任意電壓波形激勵,滿足對不同條件下不同絕緣材料不同方面的測試需求,更好地適應(yīng)用戶需求。

高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)



對被測信號進(jìn)行調(diào)整的信號源,由鎖相放大器的信號輸出端提供,采用內(nèi)部參考模式,這種模式優(yōu)于鎖相放大器對直接可以獲取的參考信號的幅度及相位,測量精度更高。數(shù)字鎖相放大器不會由于算法計(jì)算而引入或增加噪聲,并且基本不受外界環(huán)境的干擾。


高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格

指標(biāo)

參數(shù)

介電譜測試頻率范圍

1 mHz ~ 10 kHz

端口

INPUT、OUTPUT、采集、通訊、接地

輸出電壓幅值范圍

0 ~ 500 V

電壓上升速率

150 V/μs

輸出電壓直流偏置

≤1 V

高壓電源內(nèi)部電容

300 pF

有效測量電流范圍

2×10-13 ~   2×10-3 A(交流峰值)

測試絕緣阻抗范圍

5×103 ~   1×1015 Ω

電流測量誤差

≤1%

過流保護(hù)啟動

交流峰值達(dá)到40 mA,5 ms

校正

允許現(xiàn)場校正

PC要求

操作系統(tǒng):WIN10/11
處理器:I3或更高



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