holmarc HO-A216MOE-PH 自動化薄膜測試站

holmarc HO-A216MOE-PH 自動化薄膜測試站 磁光橢偏儀推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創(chuàng)新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMARC A216測試站提供標(biāo)準(zhǔn)化的測試解決方案，以適合廣泛的旋光度測量應(yīng)用。模塊化硬件設(shè)計使用戶可以在磁場和無磁場的情況下自動進行液體，固體和薄膜樣品的測量。

holmarc HO-A216MOE-PH 自動化薄膜測試站 推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創(chuàng)新型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMARC A216測試站提供標(biāo)準(zhǔn)化的測試解決方案，以適合廣泛的旋光度測量應(yīng)用。模塊化硬件設(shè)計使用戶可以在磁場和無磁場的情況下自動進行液體，固體和薄膜樣品的測量。

設(shè)計用于磁光材料的研究和測試，包括鐵磁和亞鐵磁薄膜和材料的磁特性。測量包括超薄磁性膜和多層的磁滯回線，橢圓率測量，介電材料的薄膜厚度測量，折射率，Δ和psi測量等。系統(tǒng)可以在極性，縱向和橫向配置下運行。

光源	：	光譜鹵素?zé)?，氘?鹵素?zé)艋螂?/td>
單色儀	：	Quasar 300F Czerny-Turner類型
波長范圍	：	350-900納米
準(zhǔn)直聚焦鏡	：	直徑50 mm，300 F
光學(xué)光柵	：	1200升/毫米
光譜色散	：	2.6納米/毫米
光柵尺寸	：	50 x 50毫米
衍射效率	：	45％-65％
狹縫寬度	：	0?3 mm連續(xù)可調(diào)
解析度	：	0.1納米
波長精度	：	0.2納米
波長重復(fù)性	：	0.1納米
雜散光	：	10 -3
線性色散的倒數(shù)	：	2.7毫米
譜線的半寬度	：	0.2納米@ 586納米
極化分析法	：	旋轉(zhuǎn)分析方法
武器	：	步進電機控制的自動定位
光斑直徑	：	1-5毫米
薄膜支架樣品量	：	1-12毫米
		（可應(yīng)要求提供定制架）
比色杯	：	10毫米路徑長度石英比色皿
樣品室選項	：	高/低溫樣品架
樣品進料單元	：	步進電機控制自動定位系統(tǒng)
電磁單元	：	PC控制恒流運行
冷卻	：	水冷
高 磁場	：	1.75特斯拉@ 12毫米極距
小 現(xiàn)場檢測	：	1高??斯
磁場精度	：	±0.05％
現(xiàn)場檢測	：	基于霍爾探頭（基于PC的現(xiàn)場測量）
磁場反饋	：	霍爾元素
冷水機	：	5?25°C冷凍水（用于冷卻電磁鐵）
體積	：	2升/分鐘
電磁電源	：	雙極型（大±90 V / 5A）
電磁電源	：	2.5 kVA交流220V 50Hz
控制單元	：	1 kVA交流220V 50Hz
軟件	：	Spectra ORMS軟件

性能
 

    旋光度測量分辨率：±0.009度

    檢測靈敏度：0.009度（透明度大于20％）。

    穩(wěn)定性：0.03度（透明度大于20％）。

    橢圓度測量：±0.01度。

    旋光度測量范圍：±90度。

    測量波長范圍：350-900 nm

    光譜帶寬：1 nm（可變帶通至10nm）

    高 磁場：17,500高斯

    小 場檢測：1高斯

    磁場精度：±0.05％

測量項目
 

    或測量具有法拉第效應(yīng)的薄膜，晶體，液體等

    透明固體和液體的測量維爾德常數(shù)

    法拉第旋轉(zhuǎn)/橢圓角

    極角Kerr旋轉(zhuǎn)/橢圓率角

    所需波長下的磁場與法拉第旋轉(zhuǎn)角特性

    法拉第旋轉(zhuǎn)角度與波長色散特性

    法拉第旋轉(zhuǎn)角度與熱依賴性的關(guān)系（可選）

測量光學(xué)性質(zhì)

 

    旋光度

    膜厚

    折光率

    吸收系數(shù)

    光電導(dǎo)率

    相速度

    組索引

    布魯斯特角

    空氣中的折射率

    摩爾折射率

    光子能量

    規(guī)范動量

    動量

    組速度

    PSI-Delta

    Epsilon 1和2

此款產(chǎn)品不用于醫(yī)療，不用于臨床使用，此產(chǎn)品僅用于科研使用。