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IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī)

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更新時(shí)間:2017-03-28 14:41:38瀏覽次數(shù):350

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產(chǎn)品簡介

IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī)針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)介紹

IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī)本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg 電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1°
雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊zui小位移量為2mm±0.50mm
短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊zui小位移量為1mm±0.50mm 夾具安裝尺寸*按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
IC卡彎曲試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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