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高分辨粒度儀的校準方法

閱讀:1135        發(fā)布時間:2023/10/26
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高分辨粒度儀主要用于測量納米材料的粒徑和粒度分布,其應(yīng)用廣泛。
校準方法:
1.確保儀器光學(xué)系統(tǒng)工作正常。光學(xué)窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分,因此測試前應(yīng)保證光學(xué)窗口內(nèi)外表面光潔,無劃痕,清潔,無缺損。光學(xué)基準譜平滑依次過渡,無明顯突起或凹陷。
2.外界條件對儀器的影響。外界條件主要包括環(huán)境的濕度,溫度和電源電壓的波動對儀器測試結(jié)果的影響。
3.儀器測量重復(fù)性。將儀器預(yù)熱到規(guī)定時間,采用一種國家標準物質(zhì)進行多次測試,一般測試樣品6~10次,記錄每次D50,計算測量平均值,標準偏差和相對標準偏差。
4.儀器測量相對誤差。與儀器重復(fù)性測量不同的是,儀器相對誤差的測試要采用至少三種樣品以上的國家標準物質(zhì)進行測試,每種樣品獨立測量3次并分別求其平均值,獲得多個粒度測量的平均值,分別計算儀器測量平均值與粒度表標準物質(zhì)標準值間的相對誤差。
5.儀器分辨力。儀器分辨力的判斷是采用測試兩種樣品混合測試的方法,兩種粒度標準物質(zhì)的移取量要根據(jù)其質(zhì)量濃度而定,確保混合后的樣品中標準物質(zhì)的質(zhì)量濃度比為1:2,將樣品混合均勻后加入儀器進行測量。應(yīng)能夠從儀器測量粒度分布曲線圖中能夠觀察出2個獨立不相連的峰形,則認為雙峰已分。

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