西門子物位計7ML54400AA001AB2原廠供貨

西門子物位計7ML54400AA001AB2原廠供貨
物位測量通常指對工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進行檢測，如果是對物料高度進行連續(xù)的檢測，稱為連續(xù)測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務(wù)的儀表叫做德國西門子SIEMENS物位計。

 西門子物位計的測量
對于液面相對平穩(wěn)的罐體，且被測液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數(shù)較低，應(yīng)優(yōu)選導(dǎo)波雷達。

因為導(dǎo)波管對液面有整型作用，且導(dǎo)波雷達的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結(jié)果沒有影響。對于被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強的情況，不能選擇導(dǎo)波管方式測量，因為粘附和結(jié)晶會堵死導(dǎo)波管。

 

從而形成虛假物位?？梢赃x擇導(dǎo)波桿方式來測量。當(dāng)介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無影響；

但橋接性涂污的形成卻能導(dǎo)致明顯的測量誤差，當(dāng)塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導(dǎo)體上或橋接于兩個波導(dǎo)體之間時，就會在該點測得虛假物位。

西門子物位計的基本設(shè)定
1)根據(jù)物位計測量儲罐的形狀，設(shè)定儲罐特性。
2)根據(jù)檢測介質(zhì)的特性設(shè)定介電常數(shù)。
3)在過程條件一項選擇所測介質(zhì)的過程變化情況，如果是桿式的雷達物位計，還應(yīng)該設(shè)定探頭底部的接觸情況。
4)接下來按照工藝要求設(shè)定物位計的空標(biāo)和滿標(biāo)值，如果是導(dǎo)波管的還應(yīng)該設(shè)定導(dǎo)波管的直徑。
5)根據(jù)設(shè)定的空標(biāo)值做全程抑制。

西門子物位計部分型號如下：

SIEMENS PI組 液位計 7ML1127-0BA50
SIEMENS PI組 物位計 7ML1510-2CB04

SIEMENS PI組 雷達液位計7ML5427-0CL00-0AA1
SIEMENS PI組 英文說明書7ML1998-5JM02
SIEMENS PI組 英文說明書 7ML1998-5KE01

7ML54400AA000AA1 
7ML54400AA000AB1

7ML54400AA001AA1
7ML54400AA001AA2 
7ML54400AA001AB1
7ML54400AA001AB2

7ML54400AB000AC1
7ML54400AB000AC2
7ML54400AB001AA1

7ML54400AB001AC2
7ML54400BA000AA1