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篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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2021-1-11 閱讀(1608)
又稱為偏移或校正值，可以使用4種方法進(jìn)行該調(diào)整:
1.簡(jiǎn)單零校準(zhǔn)調(diào)整
測(cè)量沒有涂層的基體。如果測(cè)厚儀未在所用探頭的誤差范圍內(nèi)顯示0，將探頭從表面移開并按+鍵/-鍵調(diào)整數(shù)值，直至屏幕顯示0。測(cè)量并調(diào)整，直至多次測(cè)量基體的平均值為0。
2.平均值零點(diǎn)校準(zhǔn)
要在粗糙表面或曲面上讀取到0,首*方法是多次測(cè)量沒有涂層的基體的厚度并計(jì)算結(jié)果的平均值。
①選擇零點(diǎn)調(diào)整菜單選項(xiàng)。
②按+鍵選擇用于計(jì)算平均值的讀取次數(shù)(通常測(cè)量3-10次)。讀數(shù)的差異越大，應(yīng)增加讀取次數(shù)以計(jì)算出平均值。
③重復(fù)測(cè)量基體。測(cè)厚儀會(huì)在相鄰讀取操作之間等待兩秒，使用戶能夠?qū)⑻筋^正確放置在被測(cè)表面上。完成后一次測(cè)量后，測(cè)厚儀會(huì)對(duì)讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算并顯示0，它表示所有零點(diǎn)調(diào)整測(cè)量操作的平均值。
3.簡(jiǎn)單調(diào)整至已知厚度
有時(shí)需要將測(cè)厚儀調(diào)整至某個(gè)已知厚度(例如，校準(zhǔn)箔厚度)而不是0。
測(cè)量被測(cè)物體。如未獲得期望讀數(shù)(在誤差范圍內(nèi))，將探頭從被測(cè)表面移開，然后按+鍵/-鍵將顯示的讀取數(shù)據(jù)調(diào)整為期望厚度。按住按鈕可增加調(diào)整速度。按確認(rèn)鍵。
4.平均調(diào)整至已知厚度
對(duì)于粗糙表面或曲面，首*方法是多次測(cè)量已知厚度并計(jì)算結(jié)果的平均值。
①選擇一點(diǎn)調(diào)整法菜單選項(xiàng)。
②按+鍵選擇用于計(jì)算平均值的測(cè)量次數(shù)(通常測(cè)量3-10次)o測(cè)量讀數(shù)的差異越大，應(yīng)增加讀取次數(shù)以計(jì)算出平均值。
③重復(fù)測(cè)量已知厚度的被測(cè)物。測(cè)厚儀會(huì)在相鄰測(cè)量操作之間等待2秒，使用戶能夠?qū)⑻筋^正確放置在被測(cè)表面上。完成后一次測(cè)量后，測(cè)厚儀會(huì)計(jì)算并顯示讀數(shù),它表示所有測(cè)量操作的平均值。如果未獲得期望讀數(shù)(在誤差范圍內(nèi))，將探頭從被測(cè)表面移開，按+鍵/-鍵將顯示的讀數(shù)調(diào)整為期望厚度。按確認(rèn)鍵。
兩點(diǎn)校準(zhǔn)
適用于非常規(guī)基質(zhì)材料、形狀或情況。在有限、特定范圍內(nèi)提供更高的精度。此方法需要對(duì)已知厚度值執(zhí)行兩次測(cè)量操作:一個(gè)較薄的數(shù)值(可以為零)和一個(gè)較厚的數(shù)值。被測(cè)物的厚度范圍應(yīng)該在這兩個(gè)值的范圍內(nèi)。
①選擇兩點(diǎn)調(diào)整法
②按+鍵選擇用于計(jì)算較薄值平均值的測(cè)量次數(shù)(通常測(cè)量3-10次)。讀數(shù)的差異越大，應(yīng)增加測(cè)量次數(shù)以計(jì)算出平均值。
③重復(fù)測(cè)量較薄值。測(cè)厚儀會(huì)在相鄰測(cè)量操作之間等待2秒，使用戶能夠?qū)⑻筋^正確放置在被測(cè)表面上。完成后一次測(cè)量后，測(cè)厚儀會(huì)對(duì)讀數(shù)進(jìn)行計(jì)算并顯示一個(gè)厚度值，它表示所有測(cè)量的平均值。
④將探頭從被測(cè)表面移開，然后按+鍵/-鍵將顯示的讀取數(shù)據(jù)調(diào)整為較薄值的已知厚度值。按確認(rèn)鍵。
⑤對(duì)較厚值重復(fù)第2~4步。
鎖定校準(zhǔn)設(shè)定：該項(xiàng)被激活時(shí)，將顯示圖標(biāo)并鎖定當(dāng)前校準(zhǔn)設(shè)置以防止用戶另作調(diào)整。
N鎖：該選項(xiàng)僅限FN兩用探頭。對(duì)非鐵基體進(jìn)行常規(guī)測(cè)量時(shí)，請(qǐng)選擇N鎖定。探頭在測(cè)量時(shí)，只使用渦流方法。這可以縮短測(cè)量時(shí)間并延長(zhǎng)電池使用時(shí)間。
校準(zhǔn)重置：該功能可將校準(zhǔn)設(shè)置恢復(fù)成為出廠校準(zhǔn)。
