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泰勒CCI MP 小尺寸自動光學輪廓儀信息

2025-7-17 閱讀(39)

泰勒CCI MP 小尺寸自動光學輪廓儀信息

高精度與高分辨率

垂直測量精度高,<0.2 埃 RMS 重復性、<0.1% 臺階高度可重復性,且在全量程內保持 0.1 埃分辨率,能捕捉到納米級甚至更小的表面細節(jié),適用于精密制造(如半導體、光學元件)的表面粗糙度、臺階高度等關鍵參數檢測。

配備 1048 x 1048 像素陣列,實現高分辨率與大視場的結合,可同時獲取大范圍區(qū)域的精細表面數據,減少拼接次數,提升效率。

寬測量范圍與靈活拼接

垂直測量范圍達 2.2 毫米,滿足不同厚度、臺階的測量需求;通過改進的 X、Y、Z 軸拼接技術,測量范圍可擴展至 100 毫米,能應對大尺寸工件(如平板顯示面板、航空航天部件)的全域表面分析。

可靠的測量穩(wěn)定性

角度靈敏度提升,減少環(huán)境干擾(如振動、溫度波動)導致的測量不確定性,數據質量更穩(wěn)定;FEA(有限元分析)優(yōu)化的機械設計,確保設備具有出色的重復性與再現性(R&R),滿足工業(yè)質量控制的嚴格要求。

設備設計與成本優(yōu)勢

耐用性與低成本維護

采用無壓電式 Z 軸掃描儀設計(此處描述與前文 “帶閉環(huán)壓電 Z 軸掃描儀" 可能存在表述差異,需以實際設備為準),若為無壓電設計,則可避免壓電元件的老化、損耗問題,大幅降低昂貴的維修費用,適合長期高頻使用場景。

堅固的結構設計結合自動表面檢測功能,能防止鏡頭與工件碰撞損壞,延長設備使用壽命。

合規(guī)性與標準化

依據 ISO 標準進行校準,測量結果具有威性和通用性,可被行業(yè)內廣泛認可,適用于國際貿易、合作研究等需要統(tǒng)一標準的場景。

易用性與智能化功能

操作便捷與低誤操作風險

配備內置自我診斷工具,便于快速排查故障,減少停機時間;操作流程簡化,結合 Windows 7 64 位系統(tǒng),降低操作人員誤操作概率,即使是新手也能快速上手。

多語言支持與兼容性

支持中文、日文等多語言,適配不同地區(qū)用戶;與多數 PC 平臺兼容,方便合作研究項目中的數據共享與協同分析。

進階分析與自動化功能

新增 3D 表面的 4D 分析工具,可追蹤表面隨時間的變化(如材料老化、磨損過程),適用于長期可靠性測試;支持批量測量數據的自動報告生成,提升質檢流程的自動化程度,適合大規(guī)模生產的高效質量管控。

適用場景

該設備可廣泛應用于半導體制造、光學元件加工、精密機械、航空航天等領域,尤其適合對表面質量要求高的場景,既能滿足實驗室級別的科研分析,也能適配工廠生產線的批量質檢需求,兼顧高精度與成本效益。




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