Renishaw TP200坐標機測頭理想性價比

觸發(fā)式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機器上進行復(fù)雜輪廓測量。

TP200系統(tǒng)組件包括：

• TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
• TP200測針模塊 — 選擇固定過行程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
• PI 200-3測頭接口
• SCR200測針交換架

具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應(yīng)變片機構(gòu)，比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。還有一種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。 

Renishaw TP200特性與優(yōu)點：

• 應(yīng)變片技術(shù)具有無可比擬的重復(fù)性和準確的三維輪廓測量
• 零復(fù)位誤差
• 無各向同性影響
• 六向測量能力
• 測針測量距離達100 mm（GF測針）
• 快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖
• 壽命 >1000萬次觸發(fā)

TP200 / TP200B測頭本體：

TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。

請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

尺寸：

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