篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀

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公司信息

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張經(jīng)理
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02158951060
機(jī):
17321369640
真:
86-021-50473901
址:
上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
編:
個(gè)化:
www.q-nix.net
網(wǎng)址:
www.dooz17.com/
鋪:
http://true-witness.com/st347593/
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雷尼紹坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)探頭TP200
雷尼紹坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)探頭TP200
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌 RENISHAW/英國雷尼紹
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時(shí)間:2024-09-01 11:02:21瀏覽次數(shù):2471

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【簡單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
雷尼紹坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)探頭TP200
具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭,它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu),比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長、精度更高
【詳細(xì)說明】

雷尼紹坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)探頭TP200

TP200系統(tǒng)組件包括:

  • TP200或TP200B測(cè)頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動(dòng)公差)
  • TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定過行程測(cè)力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)或LF(低測(cè)力)
  • PI 200-3測(cè)頭接口
  • SCR200測(cè)針交換架

 

REVO®五軸測(cè)量多類型傳感器系統(tǒng)雷尼紹的測(cè)頭測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)過精心設(shè)計(jì), 選用雷尼紹的全系列測(cè)針時(shí)性能**。 下列測(cè)頭全部使用M2螺紋測(cè)針, 但配備適當(dāng)?shù)霓D(zhuǎn)接頭也可使用其他螺紋規(guī)格的測(cè)針。

TP2
• TP
20
• TP200

TP200探頭
TP200探頭結(jié)合了
應(yīng)變片技術(shù),提供了出色的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維形式測(cè)量,即使是長樣式。探頭內(nèi)的固態(tài)ASIC(應(yīng)用集成電路)電子設(shè)備確保數(shù)百萬觸發(fā)點(diǎn)的可靠運(yùn)行。觸針模塊通過高重復(fù)性磁運(yùn)動(dòng)接頭安裝在探針上,提供快速更換觸針的能力和探針超程保護(hù)。有三個(gè)觸針模塊可提供兩種不同的超程力。標(biāo)準(zhǔn)力(SF)模塊適用于大多數(shù)應(yīng)用。低力(LF)模塊建議用于小型精密球造型或精密材料。擴(kuò)展超程(EO)模塊與標(biāo)準(zhǔn)模塊具有相同的超程力,但在Z軸上增加了8 mm的超程,以防損壞。

特性與優(yōu)點(diǎn)

  • 應(yīng)變片技術(shù)具有出色的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測(cè)量
  • 零復(fù)位誤差
  • 無各向同性影響
  • 六向測(cè)量能力
  • 測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm(GF測(cè)針)
  • 快速測(cè)頭模塊交換,無需重新標(biāo)定測(cè)尖
  • 壽命 >1000萬次觸發(fā)

規(guī)格摘要

TP200TP200B

主要應(yīng)用

用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

與TP200一樣,但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。

感應(yīng)方向

六軸:±X、±Y、±Z

六軸:±X、±Y、±Z

單向重復(fù)性 (2σ µm)

電平觸發(fā)1:0.40 µm

電平觸發(fā)2:0.50 µm

電平觸發(fā)1:0.40 µm

電平觸發(fā)2:0.50 µm

XY (2D) 侖廓測(cè)量偏差

電平觸發(fā)1:±0.80 µm

電平觸發(fā)2:±0.90 µm

電平觸發(fā)1:±1 µm

電平觸發(fā)2:±1.2 µm

XYZ (3D) 廓測(cè)量偏差

電平觸發(fā)1:±1 µm

電平觸發(fā)2:±1.40 µm

電平觸發(fā)1:±2.50 µm

電平觸發(fā)2:±4 µm 

測(cè)針交換的重復(fù)性

SCR200:±0.50 µm(大)

手動(dòng):±1 µm(大)

SCR200:±0.50 µm(大)

手動(dòng):±1 µm(大)

測(cè)力(測(cè)尖)

XY平面(所有模塊):0.02 N

Z軸(所有模塊):0.07 N

XY平面(所有模塊):0.02 N

Z軸(所有模塊):0.07 N

過行程測(cè)力(位移為0.50 mm時(shí))

XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N

XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N

Z軸(SF / EO模塊):4.90 N

Z軸(LF模塊):1.60 N

XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N

XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N

Z軸(SF / EO模塊):4.90 N

Z軸(LF模塊):1.60 N 

重量(測(cè)頭傳感器和模塊)

22 g 

22 g 

長加長桿(如配在PH10 PLUS系列測(cè)座上)

300 mm 

300 mm 

推薦的大測(cè)針長度(M2測(cè)針系列)

SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

安裝方式

M8螺紋

M8螺紋 

適合的接口

PI 200-3、UCC

PI 200-3、UCC

測(cè)針模塊交換架

自動(dòng):SCR200

手動(dòng):MSR1 

自動(dòng):SCR200

手動(dòng):MSR1 

測(cè)針系列

M2

M2

TP200測(cè)針模塊

測(cè)針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上,具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭過行程保護(hù)功能。

有三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的過行程測(cè)力。

模塊

SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)LF(低測(cè)力)EO(長過行程)

應(yīng)用 

一般使用。

小直徑測(cè)球或必須使用小測(cè)力的場(chǎng)合。

額外過行程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

說明

測(cè)針長可達(dá)100 mm,測(cè)球直徑 > 1 mm。

測(cè)球直徑小于1 mm。

與SF的過行程測(cè)力相同。

測(cè)頭Z軸的額外過行程為8 mm。

 



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