篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-09-01 12:25:32瀏覽次數(shù):1585
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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TP200具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭,它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu),比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高。TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和準(zhǔn)確的3D空間形狀測(cè)量精度,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。請(qǐng)注意,我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。
TP200系統(tǒng)組件包括: 但工作范圍更大,并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。 特性與優(yōu)點(diǎn): |
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
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主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 | 與TP200一樣,但是用在出現(xiàn)誤觸發(fā)事件的場(chǎng)合。 |
感應(yīng)方向 | 六軸:±X、±Y、±Z | 六軸:±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2s µm) | 電平觸發(fā)1:0.40 µm 電平觸發(fā)2:±0.50 µm | 電平觸發(fā)1:0.40 µm 電平觸發(fā)2:±0.50 µm |
XY(2D)侖廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1:0.80 µm 電平觸發(fā)2:±0.90 µm | 電平觸發(fā)1:±1 µm 電平觸發(fā)2:±1.2 µm |
XYZ (3D) 侖廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1:±1 µm 電平觸發(fā)2:±1.40 µm | 電平觸發(fā)1:±2.50 µm 電平觸發(fā)2:±4 µm |
測(cè)針交換的重復(fù)性 | SCR200:±0.50 µm(大) 手動(dòng):±1 µm(大) | SCR200:±0.50 µm(大) 手動(dòng):±1 µm(大) |
測(cè)力(測(cè)尖) | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N |
越程測(cè)力(位移為0.50 mm時(shí)) | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N |
重量(測(cè)頭傳感器和模塊) | 22 g | 22 g |
長(zhǎng)加長(zhǎng)桿(如配在PH10 PLUS系列測(cè)座上) | 300 mm | 300 mm |
推薦的大測(cè)針長(zhǎng)度(M2測(cè)針系列) | SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測(cè)針模塊交換架 | 自動(dòng):SCR200 手動(dòng):MSR1 | 自動(dòng):SCR200 手動(dòng):MSR1 |
測(cè)針系列 | M2 | M2 |
TP200測(cè)針模塊:
測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上,具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭越程保護(hù)功能。三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的越程測(cè)力。
模塊 | SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力) | LF(低測(cè)力) | EO(長(zhǎng)越程) |
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應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測(cè)球或必須使用小測(cè)力的場(chǎng)合。 | 額外越程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說(shuō)明 | 測(cè)針長(zhǎng)可達(dá)100 mm,測(cè)球直徑 > 1 mm。 | 測(cè)球直徑小于1 mm。 | 與SF的越程測(cè)力相同。 測(cè)頭Z軸的額外越程為8 mm。 |
SCR200交換架
SCR200可以高速自動(dòng)交換多達(dá)六個(gè)TP200測(cè)針模塊。SCR200由獨(dú)立的測(cè)頭接口 — PI 200-3供電,并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件,每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。