篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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更新時(shí)間:2024-09-01 15:24:31瀏覽次數(shù):1066
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將您的CMM檢查時(shí)間多增加三倍!
Renishaw的新PH20測(cè)座使用快速、無(wú)限、旋轉(zhuǎn)定位和*的“頭部接觸”功能,在CMM移動(dòng)小的情況下,可將觸摸觸發(fā)檢查吞吐量提高三倍。
PH20五軸觸控觸發(fā)系統(tǒng)
PH20*的“頭部接觸”允許只移動(dòng)頭部而不是CMM結(jié)構(gòu)來(lái)獲取測(cè)量點(diǎn)。僅使用頭部的快速旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),可以更快地獲取點(diǎn),并提高精度和可重復(fù)性。此外,五軸運(yùn)動(dòng)消除了花在分度頭上的時(shí)間。與傳統(tǒng)探測(cè)系統(tǒng)相比,這些速度的增加通常會(huì)使吞吐量提高3倍。
新的PH20測(cè)座設(shè)計(jì)用于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)TP20觸摸觸發(fā)探頭,通過(guò)優(yōu)化測(cè)量平臺(tái)的工作體積,*將五軸檢測(cè)能力引入更小的CMM。PH20可用于新的CMM,以及使用柄或套筒安裝的改裝機(jī)器。它可以使用現(xiàn)有的大多數(shù)檢查程序,無(wú)需修改,也不需要壓縮空氣。
方便從任何角度訪問(wèn)功能
PH20的無(wú)限定位能力保證了**的功能訪問(wèn),大限度地減少了觸針的變化。5軸同步運(yùn)動(dòng)允許在CMM上測(cè)量較大的零件,方法是將零件周圍旋轉(zhuǎn)所需的空間小化。PH20自動(dòng)與零件坐標(biāo)系對(duì)齊,避免觸針碰撞和對(duì)準(zhǔn)確夾具的要求。
更快的校準(zhǔn)
針對(duì)ph20開(kāi)發(fā)的*“推斷校準(zhǔn)”技術(shù)確定了單次操作中的頭部方向和探頭位置,允許在任何頭部角度下進(jìn)行后續(xù)測(cè)量。其他模塊在使用前只需要在校準(zhǔn)球體上進(jìn)行一些接觸。(如果需要,可通過(guò)在特征方向校準(zhǔn)探針頭來(lái)提高計(jì)量性能。)隨著定期重復(fù)校準(zhǔn)過(guò)程以符合質(zhì)量程序或在探針碰撞之后,這些顯著的時(shí)間節(jié)省會(huì)累積起來(lái)。