篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-09-01 18:33:35瀏覽次數(shù):1533
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 交通,冶金,航天,汽車 |
TP200/TP200B三坐標(biāo)傳感器
TP200系統(tǒng)組件包括:
TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動公差)
TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測力)或LF(低測力)
PI 200-3測頭接口
SCR200測針交換架
還有一種EO模塊(擴(kuò)展越程),越程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護(hù)。
應(yīng)變片技術(shù)具備優(yōu)異的測量重復(fù)性和準(zhǔn)確的3D空間形狀測量精度
零復(fù)位誤差
無各向同性影響
六向測量能力
測針測量距離達(dá)100 mm(GF測針)
測頭模塊快速交換,無需重新標(biāo)定測尖
壽命 >1000萬次觸發(fā)
TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的測量重復(fù)性和準(zhǔn)確的3D空間形狀測量精度,即使配用長測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意,我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
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主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機(jī)。 | 與TP200一樣,但是用在出現(xiàn)誤觸發(fā)事件的場合。 |
感應(yīng)方向 | 六軸:±X、±Y、±Z | 六軸:±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2s μm) | 電平觸發(fā)1:0.40 μm 電平觸發(fā)2:±0.50 μm | 電平觸發(fā)1:0.40 μm 電平觸發(fā)2:±0.50 μm |
XY(2D)侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1:0.80 μm 電平觸發(fā)2:±0.90 μm | 電平觸發(fā)1:±1 μm 電平觸發(fā)2:±1.2 μm |
XYZ (3D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1:±1 μm 電平觸發(fā)2:±1.40 μm | 電平觸發(fā)1:±2.50 μm 電平觸發(fā)2:±4 μm |
測針交換的重復(fù)性 | SCR200:±0.50 μm(大) 手動:±1 μm(大) | SCR200:±0.50 μm(大) 手動:±1 μm(大) |
測力(測尖) | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N |
越程測力(位移為0.50 mm時(shí)) | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N |
重量(測頭傳感器和模塊) | 22 g | 22 g |
長加長桿(如配在PH10 PLUS系列測座上) | 300 mm | 300 mm |
推薦的大測針長度(M2測針系列) | SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | 自動:SCR200 手動:MSR1 | 自動:SCR200 手動:MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭越程保護(hù)功能。
有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的越程測力。
模塊 | SF(標(biāo)準(zhǔn)測力) | LF(低測力) | EO(長越程) |
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應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外越程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針長可達(dá)100 mm,測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的越程測力相同。 測頭Z軸的額外越程為8 mm。 |