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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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x射線鍍層與合金的材料分析儀 XDAL 237
作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的*驅(qū)，菲希爾很早就意識(shí)到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級(jí)耐用的測量儀器。第*臺(tái)菲希爾X射線儀器在二十世紀(jì)八十年代初就已面世。從那時(shí)起，菲希爾不斷改進(jìn)和研發(fā)X射線熒光技術(shù)，使得該項(xiàng)技術(shù)在今天居于**地位。其中的一個(gè)例子是透明的狹縫設(shè)計(jì)，從而使用戶可以與基本射線同方向查看樣品。
XDL®系列測量儀器具有電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)的軸（可選）和從上至下的測量方向，可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)串行測試。 X射線源，濾光片，光圈和檢測器的不同版本使選擇具有適合您的特定測量任務(wù)的X射線設(shè)備成為可能。
典型應(yīng)用領(lǐng)域：
• 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控。
• 研發(fā)項(xiàng)目
• 電子行業(yè)
• 接插件和觸點(diǎn)
• 黃金、珠寶及手表行業(yè)
• 測量印刷線路板上僅數(shù)個(gè)納米的Au和Pd鍍層
• 痕量分析
• 根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
• 分析硬質(zhì)鍍層材料
特征：
• 帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。z高工作條件： 50 kV, 50W
• X射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓?/span>PIN二極管
• 準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm
• 基本濾片：3個(gè)，可自動(dòng)切換
• 測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
• 可編程XY平臺(tái)
• 視頻攝像頭可用來實(shí)時(shí)查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測量點(diǎn)實(shí)際大小也在圖像中顯示。
• 設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)
?FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型熒光分析儀：
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對(duì)于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm。盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測量需求。
