高低溫沖擊試驗(yàn)箱

高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要用于測試產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能。廣泛應(yīng)用于電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、航天航空、金屬等材料，進(jìn)行高溫到低溫再到到高溫 的反復(fù)瞬間變化試驗(yàn)，通過試驗(yàn)，可以了解被測物在該環(huán)境下的物理、機(jī)械等性能的變化，可以用于判定 產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到設(shè)計(jì)要求等，從而對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量控制、產(chǎn)品的改進(jìn)等提供有益的數(shù)據(jù)。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品特點(diǎn)： 高低溫沖擊試驗(yàn)箱

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測試產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能。廣泛應(yīng)用于電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、航天航空、金屬等材料，進(jìn)行高溫到低溫再到到高溫 的反復(fù)瞬間變化試驗(yàn)，通過試驗(yàn)，可以了解被測物在該環(huán)境下的物理、機(jī)械等性能的變化，可以用于判定 產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到設(shè)計(jì)要求等，從而對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量控制、產(chǎn)品的改進(jìn)等提供有益的數(shù)據(jù)。產(chǎn)品特點(diǎn)： 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用立式箱體、冷熱兩箱結(jié)構(gòu)，采用提籃轉(zhuǎn)換試品所在試驗(yàn)區(qū)域的辦法，達(dá)到冷熱沖擊試驗(yàn)的目的。這種結(jié)構(gòu)的減小了冷熱沖擊時(shí) 的熱負(fù)荷，縮短了溫度恢復(fù)時(shí)間，也是可靠、節(jié)能的一種冷熱沖擊的方式。

技術(shù)特點(diǎn)：

1、使用經(jīng)濟(jì)環(huán)保型制冷劑如R404a, R23。

2、提籃可在10秒鐘內(nèi)從一個(gè)箱子移動(dòng)到另一個(gè)箱子。

3、在沖擊試驗(yàn)的冷熱轉(zhuǎn)換過程中，可快速地恢復(fù)至常溫并保持穩(wěn)定，通過技術(shù)處理避免了箱體內(nèi)空氣對(duì)流和熱輻射對(duì)溫度的影響。

4、科學(xué)的空氣對(duì)流系統(tǒng)可確保箱內(nèi)空氣的均勻分布。

5、配備進(jìn)口全中文觸摸屏控制器，可事先設(shè)置好循環(huán)試驗(yàn)的各項(xiàng)參數(shù)，使其自動(dòng)完成試驗(yàn)全過程，使用便捷。

6、控制停留和轉(zhuǎn)換時(shí)間可調(diào)。

7、在不做沖擊試驗(yàn)的時(shí)候可以利用單個(gè)箱體做溫變?cè)囼?yàn)，一箱三用。

參照標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.1－2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2－2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B：高溫

GB10592-2008、GJB150.3

產(chǎn)品使用要求： 

1、設(shè)備擺放空間要求： 環(huán)境溫度：擺放場地宜通風(fēng)，或設(shè)有空調(diào)設(shè)備，保證設(shè)備啟動(dòng)后，其周圍環(huán)境溫度在0～30℃內(nèi)。 場地要求：平整、通風(fēng)（不能在設(shè)備排風(fēng)口形成溫度堆積），設(shè)備排風(fēng)側(cè)距離墻壁1.5米以上。設(shè)備擺放周圍無振動(dòng)，無陽光直接照射或其它熱源直接輻射?？諝赓|(zhì)量：無高濃度粉塵及腐蝕性氣體，且不能在易燃易爆氣體中試驗(yàn)和貯存。相對(duì)濕度：小于85%R.H

2、空間位置：為了通風(fēng)及操作、維修方便，設(shè)備開箱門處應(yīng)留有箱門能任意正常開關(guān)的空間 。

3、設(shè)備供電：符合對(duì)應(yīng)型號(hào)的電源要求。

技術(shù)參數(shù)表：