Aigtek功率放大器在鋼板表面缺陷及交流漏磁測(cè)試中的應(yīng)用

實(shí)驗(yàn)名稱：功率放大器在鋼板表面缺陷及其偏角的多頻交流漏磁測(cè)試中的應(yīng)用

研究方向：電磁無(wú)損檢測(cè)

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證多頻交流漏磁方法在缺陷偏角識(shí)別以及尺寸量化方面的*性。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：

對(duì)比單頻與多頻激勵(lì)下，交流漏磁探頭對(duì)鋼板表面缺陷及其偏角的敏感性。

激勵(lì)波型由函數(shù)發(fā)生器產(chǎn)生，該波被轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)，并由恒壓ATA-3080功率放大器放大，以增強(qiáng)激勵(lì)磁場(chǎng)。接收線圈安裝在激勵(lì)線圈下方的探頭中心。接收線圈的提離約為1mm。接收信號(hào)由多功能濾波器調(diào)節(jié)降噪處理，然后由混合信號(hào)示波器進(jìn)行數(shù)字化顯示。在多頻激勵(lì)實(shí)驗(yàn)中，混頻激勵(lì)信號(hào)由400Hz和500Hz組成。該多功能濾波器可實(shí)現(xiàn)截止頻率和增益的信號(hào)濾波可根據(jù)需要進(jìn)行配置。實(shí)驗(yàn)中，截止頻率設(shè)置為1 kHz，增益設(shè)置為20 dB。

實(shí)驗(yàn)過(guò)程：

篩選多個(gè)測(cè)量目標(biāo)的敏感頻率，采用多頻技術(shù)，將多個(gè)*激勵(lì)信號(hào)混疊為一個(gè)合成激勵(lì)信號(hào)，通過(guò)功率放大器放大，加載在檢測(cè)探頭上；通過(guò)磁敏元件拾取缺陷附近的漏磁場(chǎng)，用以表征缺陷。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果：

對(duì)比了單頻激勵(lì)和多頻激勵(lì)下的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，驗(yàn)證了多頻交流漏磁方法在識(shí)別缺陷方向方面的優(yōu)勢(shì)，因?yàn)樵摲椒ň哂懈玫男盘?hào)靈敏度；而單頻和多頻信號(hào)對(duì)鋼板缺陷深度的檢測(cè)靈敏度相似但多頻信號(hào)由于其信號(hào)強(qiáng)度更大，更適合量化缺陷深度。

放大器在該實(shí)驗(yàn)中發(fā)揮的效能: 實(shí)現(xiàn)激勵(lì)信號(hào)0-60倍的功率放大，提高系統(tǒng)的抗干擾能力，提升信號(hào)信噪比

您選擇該放大器的原因: 功率放大能力強(qiáng)，可實(shí)現(xiàn)60倍放大；旋鈕操作簡(jiǎn)便。

實(shí)驗(yàn)中用到的功率放大器ATA-3080參數(shù)指標(biāo)：

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