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聚源TH2828/TH2828A型精密LCR數(shù)字電橋性能特點 :
阻抗測量范圍Z寬的自動平衡電橋技術(shù)
四端對端口配置有效消除測試線電磁耦合
基本準(zhǔn)確度0.05%（TH2828）、0.1%（TH2828A）
Z高達(dá)1 MHz的測量頻率范圍
交流測試信號可編程至20V（選件）
Z高達(dá)30次/秒的測量速度
六位讀數(shù)分辨率
可測量22種阻抗參數(shù)組合
30 Ω, 100 Ω可選信號源輸出阻抗

聚源TH2828/TH2828A型精密LCR數(shù)字電橋性能特點 :

阻抗測量范圍zui寬的自動平衡電橋技術(shù)
四端對端口配置有效消除測試線電磁耦合
基本準(zhǔn)確度0.05%(TH2828)、0.1%(TH2828A)
zui高達(dá)1 MHz的測量頻率范圍
交流測試信號可編程至20V(選件)
zui高達(dá)30次/秒的測量速度
六位讀數(shù)分辨率
可測量22種阻抗參數(shù)組合
30 Ω, 100 Ω可選信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內(nèi)部可編程直流偏置± 40 V/100 mA(選件)
外置偏流源至40 A(配置兩臺TH1775)
電壓或電流的自動電平調(diào)整(ALC)功能
V、I測試信號電平監(jiān)視功能
20組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存/讀取
內(nèi)建比較器,10檔分選及計數(shù)功能
RS232C, GPIB和HANDLER接口
2 m/4 m測試電纜擴展(選件, 僅TH2828)
USB接口供數(shù)據(jù)外存（僅TH2828)
320×240點陣大型圖形LCD顯示
中英文可選操作界面

聚源TH2828/TH2828A型精密LCR數(shù)字電橋簡要介紹:

TH2828/TH2828A是采用當(dāng)前*的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達(dá)100 MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40A直流偏置的高功率測試條件及列表掃描功能將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

TH2828/TH2828A是電子元件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。
計算機通訊及測試過程記錄提供了條件。

TH2828/TH2828A以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。

廣泛的測量對象：

無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)
                    元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)
                    絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。

多種元件、材料特性測量能力

揭示電感器件的多種特性
TH2828/A的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以精確地分析磁性材料、電感器件的性能。
使用TH10301選件的100mA DC的偏置電流可以精確測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775電流疊加裝置，可使偏置電流達(dá)40A以精確分析高功率、大電流電感器件。

精確的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。
儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。

液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是zui大測試電壓不夠。
使用TH10301選件可提供分辨率為1%及高達(dá)20Vms的可編程測試信號電平，使它能在*條件下進行液晶材料的電容特性測量。

半導(dǎo)體材料和元件的測量
進行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。
20HZ－1　MHz的測量頻寬及高達(dá)40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至zui小。
各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內(nèi)容。

適應(yīng)多種領(lǐng)域的測試需要

新材料、新元件的研究開發(fā)
TH2828/TH2828A具有的0.05%/0.1%基本準(zhǔn)確度極大提高了測量的可信度。儀器提供的六位分辨率可以檢測元件參數(shù)的細(xì)微變化，尤其對損耗器件的測試具有良好的性能。
提高生產(chǎn)效率
TH2828/TH2828A　30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。
內(nèi)建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。
內(nèi)建存儲器及USB外存裝置可大大減小操作時間并降低聽任錯誤。
應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗手段
儀器具備的20Hz-1　MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。
TH10301　及　TH1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。
提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。

用戶友好的操作界面

簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果，各種設(shè)定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設(shè)置
TH2828/A提供有內(nèi)部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設(shè)置，TH2828還具有外部USB存儲卡進行數(shù)據(jù)保存及多臺儀器統(tǒng)一進行數(shù)據(jù)設(shè)置/調(diào)用。這將減小參數(shù)的設(shè)置錯誤并提高用戶使用效率。
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
TH2828/TH2828A提供有GPIB并行通訊（TH2828A）接口，為多機通訊并組成自動測試系統(tǒng)提供了可能，同時，儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機進行遠(yuǎn)程通訊。

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