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鎖相紅外顯微成像系統(tǒng)的概述

閱讀：289 發(fā)布時(shí)間：2024-4-12
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　　鎖相紅外顯微成像系統(tǒng)的測(cè)量過程是通過調(diào)制施加的電流或電壓，利用視頻鎖相算法來達(dá)到降低背景噪聲的目的。利用這個(gè)技術(shù)，器件的失效點(diǎn)可非常準(zhǔn)確地被定位。
　　鎖相紅外顯微成像系統(tǒng)是一款非破壞性電性故障定位設(shè)備，它可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中(長(zhǎng)波)紅外探測(cè)器在IC通電情況下探測(cè)缺陷位置熱輻射的分布，以此定位失效點(diǎn)，是實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、檢測(cè)、IC產(chǎn)品設(shè)計(jì)、電路失效分析領(lǐng)域的理想失效分析工具。
　　該系統(tǒng)將鎖相技術(shù)和熱成像技術(shù)結(jié)合,具有高達(dá)1mk的超高溫度分辨率,非常適合漏電流檢測(cè),PCBA短路熱點(diǎn)失效分析和IC器件缺陷定位,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過傳統(tǒng)的溫度探測(cè)器如熱敏電阻、熱電偶、RTD之類的測(cè)溫能力。
　　本公司提供的LUXET Thermo 50是一款基于非制冷紅外相機(jī)的鎖相紅外顯微成像系統(tǒng)。配備了電動(dòng)垂直運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、高幀頻長(zhǎng)波紅外相機(jī)、廣角鏡頭與顯微鏡頭、高壓源表，可以適用于封裝器件、電路板等多種不同種類器件的失效點(diǎn)定位。

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