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目錄:上海昊量光電設備有限公司>>激光測量設備>>波前分析儀>> 高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀
  • 高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀
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產地類別:國產 價格區(qū)間:面議

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更新時間:2021-06-02 09:46:18瀏覽次數:2900評價

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產地類別 國產 價格區(qū)間 面議
高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等*的優(yōu)勢。

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

400X300高分辨率、500um高動態(tài)范圍、高性價比、同時檢測波前與M^2波前傳感器!

 

 

關鍵詞:波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF

 

 

公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等*的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案!波前探測器配套的軟件界面友好,可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。 

 

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

 

波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發(fā)實力,能為客戶提供的各種自適應光學系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops)制定個性化解決方案??筛鶕蛻舻膽眯枨?,為客戶推薦zui合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統(tǒng)操作軟件等。

 

 

圖1 波前校正前與校正后對比

 

波前探測器依據其四波橫向剪切干涉技術,對哈特曼掩模技術進行了大的升級、改進。波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍*結合在了一起??梢詽M足不同的客戶的應用需求,可對激光光束進行光強、位相、PSF(點擴散函數)、MTF調制傳遞函數)、OTF(光學傳遞函數)、波前像差、M^2等進行實時、簡便、快速的測量。

 

 

 

 

*部   產品介紹

 

 

SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器

 

公司將 SID4的波前測量波長范圍擴展到190nm-400nmSID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學元件測量(例如印刷、半導體等等)和表面檢測(半導體晶片檢測等)。

 

特點:

u  高分辨率250x250

u  通光孔徑大8.0mmx8.0mm

u  覆蓋紫外光譜

u  靈敏度高0.5um

u  優(yōu)化信噪比

 

 

圖2 SID4-UV波前分析儀

 

 

SID4 波前傳感器

 

 

可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強度分布,波前像差,激光的M2,澤尼克參數等進行實時的測量及參數輸出。

特點:

Ø  波長范圍:400-1100nm

Ø  分辨率高160x120

Ø  消色差

Ø  測量穩(wěn)定性高

Ø  對震動不敏感

Ø  操作簡單

Ø  結構緊湊,體積小

Ø  可用筆記本電腦控制

 

 

 

圖3 SID4位相檢測

 

 

可用于檢測各種透鏡,光學系統(tǒng)的檢測,可以對透鏡、光學系統(tǒng)的進行實時的PSF(點擴散函數)、MTF(調制傳遞函數)、OTF(光學傳遞函數)、波前像差測量及參數輸出。相對于傳統(tǒng)的透鏡檢測設備像:傳函儀、干涉儀,具有操作簡便,測量精度高,參數輸出方便等優(yōu)點,正在被越來越多的客戶推崇。

 

 

 

特點:

u  波長范圍:400-1100nm

u  高性能的相機,信噪比高

u  實時測量,立即給出整個物體表面的信息(120000個測量點)

u  曝光時間極短,保證動態(tài)物體測量

u  操作簡單

 

 

 

圖4 SID4-HR

 

 

5 SID4-HR傳遞函數檢測

 

 

 

SID4 NIR 波前分析儀

 

 

主要針對1550 nm1.5um-1.6um激光的檢測,具有分辨率高高靈敏度、高動態(tài)范圍、操作簡便等*的優(yōu)勢??捎糜诠鈱W測量,SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質量的理想工具。

 

特點:

²  高分辨率(160x120) 

²  快速測量 

²  性價比高

²  測量

²  對振動不敏感

 

 

 

6 SID4 NIR激光波前檢測

 

 

SID4 DWIR 波前儀

 

 

具有寬波段測量的特點??梢詫崟r的檢測3-5um8-14um的波前位相,強度分布等響應的波前信息??梢院芎玫臐M足紅外波段客戶的波前檢測需求。

 

特點:

u  光學測量:SID4 DWIR是測量紅外物體特性(熱成像和安全視覺)或紅外透鏡(CO2激光器)的理想工具,輸出結果包括MTFPSF,像差,表面質量和透鏡焦距。

u  光束測量:(CO2激光器,紅外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數:像差,M2,光強分布,光束特性等

u  高分辨率(96x72

u  可實現測量

u  可覆蓋中紅外和遠紅外波段 大數值孔徑測量,無需額外中轉透鏡

u  快速測量 對振動不敏感

u  可實現離軸測量

u  性價比高

 

 

 

 

 

7SID4 DWIR

 

 

 

 

SID4產品型號參數匯總

 

 

型號

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

孔徑尺寸(mm2

3.6 x4.8

8.9 x11.8

8.0 x8.0

3.6x4.8

13.44x10.08

9.6x7.68

空間分辨率(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

測量點數

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80X64

波長范圍

350-1100 nm

350-1100 nm

190-400 nm

1.5-1.6µm

3-5µm  8-14µm

0.9- 1.7µm

精準度

10nm RMS

10nm RMS

10nm RMS

>15nm RMS

75nm RMS

10nm RMS

動態(tài)范圍

>100µm

>500µm

>200um

>100µm

/

~100µm

采樣速度

60 fps

10 fps

30 fps

60 fps

50 fps

60fps

處理速度

>10fps

>3 fps

1fps

<10fps

20 Hz

>10Hz

 

 

 

 

 

第二部       控制軟件

 

 

SID4波前分析儀控制軟件

 

 

SID4波前分析儀控制軟件與SID4 波前傳感器配套提供的是一款完整的分析軟件,其集成了高分辨率的相位圖與強度分布圖,測量光強分布和波前信息。

 

 

借助LabviewC++ 可編程模塊數據庫(軟件二次開發(fā)工具包),客戶能夠根據自身的需要編寫各種相位測量與編譯模塊。

 

 

Adaptive Optics LoopsSID4 Wavefront Sensor結合您的應用,選配合適的可變形鏡或相位調制器,提供整套的自適應光學系統(tǒng)。減小任何一個光學系統(tǒng)的相差從來都不是簡單的,我們的產品能為激光光束和成像系統(tǒng)帶來更可靠,高精度的解決方案。

 

 

 

8 SID4控制界面

 

 

SID4光學測量軟件Kaleo

 

基于剪切干涉的波前傳感器與專門設計的光學測量軟件Kaleo結合,可以測量球面鏡和非球面鏡的像差及MTF等信息。只需要幾秒鐘,我們的儀器為您呈現絕大部分的光學參數,如焦距,光腰,MTF,像差,Zernike系數,曲率半徑,PSF等。

 

 

 

 

第三部       與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較

 

 

 

與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結果對比:

 

 

 

 

 

 

技術參數對比:

 

 

 

PHASICS

Shack-Hartmann

區(qū)別

技術

剪切干涉

微透鏡陣列

PHASICS投放市場時,已經申請技術,是對夏克-哈特曼技術的升級

重建方式

傅里葉變換

分區(qū)或模式法

夏克-哈特曼波前探測器,局域導數以微透鏡單元區(qū)域的平均值來近似,誤差大

強度

對強度變化不敏感

對強度變化靈敏

PHASICS測量精度高,波前測量不依賴于強度水平

校準

用針孔校準、方便快捷

安裝困難,需要精密的調節(jié)臺

PHASICS使用方便

取樣點

SID4-HR300X400測量點

128X128測量點(多個微透鏡)

PHASICS具有更高的分辨率

數值孔徑

NA0.5

NA0.1

PHASICS動態(tài)范圍更高

分辨率

29.6μm

115μm

PHASICS具有更高的空間分辨率

測量精度

2nm RMS

5nm RMS

PHASICS更好的測量精度

獲取頻率

60fps

30fps

PHASICS獲取速度快

處理頻率

>10Hz

30Hz

PHASICS可滿足大部分處理要求

消色差

無需對每個波長進行校準

需要在每個波長處校正

PHASICS更靈活,可以測試寬波段,而不需要校準

 

 

 

 

第四部  應用領域

 

 

Ø 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統(tǒng)波前像差檢測

Ø 激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測

Ø  紅外、近紅外探測

Ø 平行光管/望遠鏡系統(tǒng)的檢測與裝調

Ø 衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領域

Ø  球面、非球面光學元器件檢測 (平面球面透鏡)

Ø  虹膜定位像差引導

Ø 大口徑高精度光學元器件檢測

Ø  激光通信領域

Ø  航空航天領域

 

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