微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結(jié)合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量，用于數(shù)千種應(yīng)用程序，并提供完整的標(biāo)準(zhǔn)模型系列來支持它們。微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀的波長范圍和分辨率來區(qū)分，這反過來又決定了可以測量的厚度范圍。

應(yīng)用：

1. 測量圓柱或曲面上薄膜厚度：注射器、支架、銷釘、電線等。即使在高度彎曲的表面上，小點也會產(chǎn)生平坦的場以實現(xiàn)精確測量。

2. 不均勻、粗糙的涂層或光散射材料，如高霧度或納米粒子注入薄膜。小光斑定位測量有效地減少光散射和不均勻性的影響

3.圖案晶圓、MEMS 和其他需要高靈敏度領(lǐng)域的小區(qū)域測量的應(yīng)用。

基本規(guī)格：

選型列表：

*可根據(jù)要求設(shè)計定制探頭

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