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奧譜天成(廈門)光電有限...

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基于高光譜成像儀在布料中的檢測(cè)

閱讀:116      發(fā)布時(shí)間:2025-5-30
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本期內(nèi)容基于高光譜成像儀在布料中的檢測(cè)。

應(yīng)用產(chǎn)品:ATH1010高光譜成像儀

測(cè)試樣品:布料

測(cè)試目的:檢測(cè)不同樣本間的反射率差異


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ATH1010是一種體積小、重量輕的微型高光譜成像儀,特別適合配合無(wú)人機(jī)適用。除了體積小、重量輕以外,ATH1010具有高空間分辨率、高頻譜分辨率、寬成像范圍等特點(diǎn),ATH1010由兩部分組成:成像鏡頭和高光譜儀,其中高光譜儀基于透射光柵技術(shù),具有良好的像差特性。ATH1010采用1920x1200像素的高性能CCD成像器件,成像清晰、噪點(diǎn)少。


測(cè)試流程 

1

準(zhǔn)備階段

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首先根據(jù)

使用 ATH1010 在室內(nèi)測(cè)試,室內(nèi)使用鹵素?zé)艄庠?,曝光時(shí)間設(shè)置為 6000us, 測(cè)試時(shí)圖像清晰 ,無(wú)過(guò)曝。

1.設(shè)備檢查:開啟 ATH1010進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)采集 ,確保成像質(zhì)量清晰 ,儀器運(yùn)行無(wú)異常。                                               2.環(huán)境控制:室內(nèi)環(huán)境穩(wěn)定 ,無(wú)風(fēng) ,測(cè)試溫度 16℃ ,   室內(nèi)環(huán)境因素不會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。                                                3.樣品準(zhǔn)備:準(zhǔn)備待測(cè)樣品 ,確保樣品表面清潔。


2

測(cè)試設(shè)置與測(cè)試執(zhí)行

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參數(shù)設(shè)置:根據(jù)樣品的反射特性 ,靈活設(shè)置合理的曝光時(shí)間以達(dá)到測(cè)試結(jié)果最佳的目的。 .校準(zhǔn):在與樣品同一光源的條件下進(jìn)行白板數(shù)據(jù)的采集 ,以便計(jì)算出正確的反射率曲線。

1.放置樣品:將待測(cè)樣品擺放在儀器正前方 ,確保樣品位置穩(wěn)定。

2.開始掃描:調(diào)整好焦距、曝光時(shí)間后,啟動(dòng)高光譜成像儀進(jìn)行掃描,確保掃描過(guò)程中儀器與 樣品保持相對(duì)靜止。

3.數(shù)據(jù)記錄:將采集好的數(shù)據(jù)從預(yù)先設(shè)置好的保存路徑之中打開 ,確保數(shù)據(jù)完整、無(wú)缺失。

3

數(shù)據(jù)分析與處理結(jié)果

1.數(shù)據(jù)處理:對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行扣除暗底 ,去除基線噪聲 ,提高數(shù)據(jù)質(zhì)量。 2.反射率計(jì)算:根據(jù)反射率計(jì)算公式 ,輸出反射率圖。

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圖中分別為不同布料樣品

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4

結(jié)論

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本次測(cè)試基于 400-1000nm 可見近紅外波段高光譜成像系統(tǒng)獲取不同樣品的高光譜圖像,利用監(jiān)督分類對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理工作。結(jié)果表明:根據(jù)不同布料建立感興趣區(qū)后進(jìn)行監(jiān)督分類,ATH1010   測(cè)試布料樣品正面時(shí)分選準(zhǔn)確度較高,反面分選會(huì)存在一定的誤差。




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