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淺析影響電阻或電阻率測(cè)試的主要幾個(gè)因素-絕緣電阻測(cè)試儀

時(shí)間:2023/7/17閱讀:174
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  武漢赫茲電力淺析影響電阻或電阻率測(cè)試的主要幾個(gè)因素-絕緣電阻測(cè)試儀


  HZ2671絕緣電阻測(cè)試儀

大電流.jpg


  淺析影響電阻或電阻率測(cè)試的主要幾個(gè)因素-絕緣電阻測(cè)試儀


  a.環(huán)境溫濕度


  一般材料的電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小。相對(duì)而言,表面電阻(率)對(duì)環(huán)境濕度比較敏感,而體電阻(率)則對(duì)溫度較為敏感。濕度增加,表面泄漏增大,體電導(dǎo)電流也會(huì)增加。溫度升高,載流子的運(yùn)動(dòng)速率加快,介質(zhì)材料的吸收電流和電導(dǎo)電流會(huì)相應(yīng)增加,據(jù)有關(guān)資料報(bào)道,一般介質(zhì)在70C時(shí)的電阻值僅有20C時(shí)的10%。因此,測(cè)量材料的電阻時(shí),必須指明試樣與環(huán)境達(dá)到平衡的溫濕度。


  b.測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)


  介質(zhì)材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持不變,即歐姆定律對(duì)此并不適用。常溫條件下,在較低的電壓范圍內(nèi),電導(dǎo)電流隨外加電壓的增加而線性增加,材料的電阻值保持不變。超過一定電壓后,由于離子化運(yùn)動(dòng)加劇,電導(dǎo)電流的增加遠(yuǎn)比測(cè)試電壓增加的快,材料呈現(xiàn)的電阻值迅速降低。由此可見,外加測(cè)試電壓越高,材料的電阻值越低,以致在不同電壓下測(cè)試得到的材料電阻值可能有較大的差別。


  值得注意的是,導(dǎo)致材料電阻值變化的決定因素是測(cè)試時(shí)的電場(chǎng)強(qiáng)度,而不是測(cè)試電壓。對(duì)相同的測(cè)試電壓,若測(cè)試電極之間的距離不同,對(duì)材料電阻率的測(cè)試結(jié)果也將不同,正負(fù)電極之間的距離越小,測(cè)試值也越小。


  c.測(cè)試時(shí)間


  用一定的直流電壓對(duì)被測(cè)材料加壓時(shí),被測(cè)材料上的電流不是瞬時(shí)達(dá)到穩(wěn)定值的,而是有一衰減過程。在加壓的同時(shí),流過較大的充電電流,接著是比較長(zhǎng)時(shí)間緩慢減小的吸收電流,最后達(dá)到比較平穩(wěn)的電導(dǎo)電流。被測(cè)電阻值越高,達(dá)到平衡的時(shí)間則越長(zhǎng)。因此,測(cè)量時(shí)為了正確讀取被測(cè)電阻值,應(yīng)在穩(wěn)定后讀取數(shù)值或取加壓1分鐘后的讀數(shù)值。


  另外,高絕緣材料的電阻值還與其帶電的歷史有關(guān)。為準(zhǔn)確評(píng)價(jià)材料的靜電性能,在對(duì)材料進(jìn)行電阻(率)測(cè)試時(shí),應(yīng)首先對(duì)其進(jìn)行消電處理,并靜置一定的時(shí)間,靜置時(shí)間可取5分鐘,然后,再按測(cè)量程序測(cè)試。一般而言,對(duì)一種材料的測(cè)試,至少應(yīng)隨機(jī)抽取3~5個(gè)試樣進(jìn)行測(cè)試,以其平均值作為測(cè)試結(jié)果。


  d.測(cè)試設(shè)備的泄漏


  在測(cè)試中,線路中絕緣電阻不高的連線,往往會(huì)不適當(dāng)?shù)嘏c被測(cè)試樣、取樣電阻等并聯(lián),對(duì)測(cè)量結(jié)果可能帶來(lái)較大的影響。為此:


  為減小測(cè)量誤差,應(yīng)采用保護(hù)技術(shù),在漏電流大的線路上安裝保護(hù)導(dǎo)體,以基本消除雜散電流對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;


  高電壓線由于表面電離,對(duì)地有一定泄漏,所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導(dǎo)線作為高壓輸出線并盡量縮短連線,杜絕電暈放電;


  絕緣電阻測(cè)試儀采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測(cè)試臺(tái)和支撐體,以避免由于該類原因?qū)е聹y(cè)試值偏低。


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