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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,冶金,航天,電氣 |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
小型溫度沖擊試驗箱控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
小型溫度沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗主要技術(shù)指標(biāo):
| 型號 | A型 | B型 | C 型 | ||||||
| GST-70H-W | GST-70S-A/W | GST-100S-W | GST-200S | GST-70L-A | GST-100L-A | ||||
| 標(biāo)稱內(nèi)容積（升） | 70 | 70 | 100 | 200 | 70 | 100 | |||
| 試驗方式 | 氣動風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū) | ||||||||
| 性 能 | 高溫室 | 預(yù)熱上限溫度 | +200℃ | ||||||
| 升溫速率 | 常溫→+200℃≤15min | ||||||||
| 低溫室 | 預(yù)冷下限溫度 | ﹣77℃ | ﹣75℃ | ﹣75℃ | |||||
| 降溫速率 | 常溫→-75℃≤55min | 常溫→-75℃≤45min | 常溫→-75℃≤55min | 常溫→-75℃≤50min | 常溫→-75℃≤50min | 常溫→-75℃≤75min | |||
| 試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃（≤+150℃時），±3℃（＞+150℃時） | |||||||
| 溫度范圍 | （+60~+200）℃~（-70~0）℃ | （+60~+200）℃~（-65~0）℃ | |||||||
| 溫度恢復(fù)時間 | 5min以內(nèi) | 10min以內(nèi) | 5min以內(nèi) | ||||||
| 試樣重量 | 3.5kg | 5kg | 5kg | 20kg | 2.5kg | 2.5kg | |||
| 內(nèi)部尺寸 (mm) | W | 410 | 410 | 650 | 650 | 410 | 650 | ||
| H | 460 | 460 | 460 | 460 | 460 | 460 | |||
| D | 370 | 370 | 370 | 670 | 370 | 370 | |||
| 外部尺寸 （不含凸起部分） (mm) | W | 1310 | 1310 | 1550 | 1550 | 1310 | 1550 | ||
| H | 1950 | 1950 | 1950 | 1950 | 1950 | 1950 | |||
| D | 1830 | 1530 | 1530 | 1830 | 1530 | 1530 | |||