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北京超聲波探傷儀

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  • 北京超聲波探傷儀
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參考價 19800
訂貨量 1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 LT/MUT-350B
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2020-07-24 17:02:32瀏覽次數(shù):995

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 1萬-5萬
儀器種類 數(shù)字式 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,電子
北京超聲波探傷儀全中文操作鍵膜,簡捷易懂。
全中文顯示,主從式菜單,并設(shè)計(jì)有快捷按鍵和數(shù)碼飛梭旋輪,操作便捷,。
全數(shù)字真彩色液晶顯示器(TFT),可根據(jù)環(huán)境選擇背景色和波形顏色,液晶亮度可自由設(shè)定。
高性能安保電池模塊,便于拆裝,可以脫機(jī)獨(dú)立充電,大容量高性能鋰離子電池模塊使儀器連續(xù)工作時間延長到八小時以上;

詳細(xì)介紹

數(shù)字式超聲波探傷儀 超聲波探傷儀 

型號:LT/MUT-350B

北京超聲波探傷儀功能特點(diǎn):

全中文操作鍵膜,簡捷易懂。

全中文顯示,主從式菜單,并設(shè)計(jì)有快捷按鍵和數(shù)碼飛梭旋輪,操作便捷,技術(shù)。

全數(shù)字真彩色液晶顯示器(TFT),可根據(jù)環(huán)境選擇背景色和波形顏色,液晶亮度可自由設(shè)定。

北京超聲波探傷儀高性能安保電池模塊,便于拆裝,可以脫機(jī)獨(dú)立充電,大容量高性能鋰離子電池模塊使儀器連續(xù)工作時間延長到八小時以上;

儀器輕小便攜,單手即可以把持,經(jīng)久耐用,引導(dǎo)行業(yè)潮流。

主要技術(shù)參數(shù):

檢測范圍:(0~6000)mm

工作頻率:(0.5~15)MHz

聲速范圍:(1000~9999)m/s

動態(tài)范圍:≥32dB

垂直線性誤差:≤3%

水平線性誤差:≤0.2%

分辨力:>36dB(5P14)

靈敏度余量:62dB(200mmФ2平底孔)

數(shù)字抑制:(0~80)%,不影響線性與增益

電噪聲電平:≤10%

探傷通道:50組探傷工作通道。

探頭接口:Q9-Q9

探頭類型:直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭

閘門:進(jìn)波門、失波門;單閘門讀數(shù)、雙閘門讀數(shù)

報(bào)警:蜂鳴報(bào)警,LED燈報(bào)警

電源:直流(DC)9V;鋰電池連續(xù)工作6~8小時以上

外型尺寸:263×170×61(mm)

環(huán)境溫度:(-10~50)

相對濕度:(20~95)%RH

注:以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測得的。

放大接收:

硬件實(shí)時采樣:10AD轉(zhuǎn)換器,采樣速度160MHz,硬件實(shí)時采樣,波形高度保真

檢波方式:正半波、負(fù)半波、全波、射頻檢波

濾波頻帶(0.5~15)MHz,根據(jù)探頭頻率全自動匹配,無需手動設(shè)置。

閘門讀數(shù):單閘門和雙閘門讀數(shù)方式可選;閘門內(nèi)峰值讀數(shù)

增益:總增益量110dB,設(shè)0、0.1dB、1dB、2dB6dB步進(jìn)值,*的全自動增

益調(diào)節(jié)及掃查增益功能,使探傷既快捷又準(zhǔn)確。

探傷功能:

波峰記憶:實(shí)時檢索缺陷  高波,記錄缺陷 大值

Φ值計(jì)算:直探頭鍛件探傷找準(zhǔn)缺陷 高波后自動計(jì)算、顯示缺陷當(dāng)量尺寸

缺陷定位:實(shí)時顯示缺陷水平、深度(垂直)、聲程位置

缺陷定量:缺陷當(dāng)量dB值實(shí)時顯示

缺陷定性:通過回波包絡(luò)波形,方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷

曲面修正:用于曲面工件探傷,可實(shí)時顯示缺陷周向位置

DAC/AVG:曲線自動生成,取樣點(diǎn)不受限制,并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線隨增益自動浮動、隨聲程自動擴(kuò)展、隨延時自動移動。能顯示任意孔徑的AVG曲線。

門內(nèi)展寬:放大回波細(xì)節(jié),便于回波分析

波形凍結(jié):凍結(jié)屏幕上顯示的波形,便于缺陷分析

B型掃描:實(shí)時掃查、橫截面顯示,可顯示工件缺陷形狀,使探測結(jié)果更直觀。

板厚輸入:輸入工件厚度,二次波三次波及多次波探的缺陷儀器顯示缺陷實(shí)際深度。

焊縫圖示:顯示焊縫坡口形式和聲束走向,直觀顯示缺陷位置。

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