X熒光硅鋁分析儀 X射線測定儀 返回列表頁

X熒光硅鋁分析儀  X射線測定儀
X熒光硅鋁分析儀 性能特點：
1 、微機化集成為一體，結(jié)構(gòu)緊湊，外形美觀。
2、大屏幕液晶顯示，全中文菜單提示操作，使用極為方便。
3、分析時間短，1分鐘能測出SiO2%、Al2O3%。
4、儀器檢測時不破壞樣品，樣品可重復使用。
5、不用任何化學試劑、無三廢排放，不含放射源、低耗電，符合環(huán)保節(jié)能要求。
6、數(shù)據(jù)存儲量大，含量結(jié)果、儀器自檢數(shù)據(jù)都可查詢，避免了打印耗材。
7、儀器執(zhí)行GB/T19140《水泥X射線熒光分析通則》。
8、可與配料系統(tǒng)聯(lián)網(wǎng)，實現(xiàn)自動控制。
 
X熒光硅鋁分析儀 技術(shù)指標：
1、分析范圍: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 
2、分析精度：標準偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析寬度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通過標定工作曲線選定。
4、分析時間: n*60秒（n為1～5自然數(shù)）。
5、使用條件: 供電AC200V～240V；環(huán)境溫度0～40℃；相對濕度<85%（30℃）。
6、整機功耗: <30W 
7、整機尺寸：468mm*368mm*136mm 
8、整機重量：13.8kg

X熒光硅鋁分析儀  X射線測定儀

X熒光鈣鐵分析儀選用X射線管作激發(fā)光源，X射線管產(chǎn)生的射線激發(fā)樣品，樣品中元素的k層電子被擊出，形成空穴，原子處于激發(fā)狀態(tài)，隨后，外層電子立即填充k層電子空穴而產(chǎn)生電子躍遷，電子躍遷時釋放能量，發(fā)射各熒光元素的特征X射線(即X熒光)。