負(fù)壓法密封試驗(yàn)儀

負(fù)壓法密封試驗(yàn)儀依采用負(fù)壓法測(cè)試原理，適用于袋、瓶、罐、盒等包裝件的密封試驗(yàn)。通過(guò)試驗(yàn)可以有效地比較和評(píng)價(jià)包裝件的密封工藝及密封性能，為確定相關(guān)的技術(shù)指標(biāo)提供科學(xué)依據(jù)。也可用于經(jīng)跌落、耐壓試驗(yàn)后的某些包裝件的密封性能測(cè)試。
負(fù)壓法密封試驗(yàn)儀測(cè)試原理：
通過(guò)對(duì)真空室抽真空，使浸在水中的試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差，觀測(cè)試樣內(nèi)氣體外逸情況，以此判定試樣的密封性能；通過(guò)對(duì)真空室真空，使試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差，觀測(cè)試樣膨脹及釋放真空后試樣形狀恢復(fù)情況，以此判定試樣的密封性能。
參照標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 15171、ASTM D3078
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
★嵌入式高速微電腦芯片控制，簡(jiǎn)潔高效的人機(jī)交互界面，為用戶提供舒適流暢的操作體驗(yàn)
★標(biāo)準(zhǔn)化，模塊化，系列化的設(shè)計(jì)理念，可zui大限度的滿足用戶的個(gè)性化需求
★精心設(shè)計(jì)的UI界面，觸控屏操作，
★7寸高清彩色液晶屏，實(shí)時(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)及曲線
★進(jìn)口高速高精度采集芯片，有效保證測(cè)試準(zhǔn)確性與實(shí)時(shí)性
★負(fù)壓法測(cè)試原理，真空度可設(shè)可控
★可階梯分段設(shè)置真空度，避免客戶反復(fù)頻繁設(shè)置參數(shù)；
★實(shí)時(shí)曲線顯示
★關(guān)鍵元器件選用世界進(jìn)口件，性能穩(wěn)定可靠
★自動(dòng)反吹卸載功能，使試驗(yàn)結(jié)束過(guò)程簡(jiǎn)便順暢
★過(guò)壓安全保護(hù)設(shè)計(jì)
★節(jié)能環(huán)保設(shè)計(jì)，超低功耗
★配置標(biāo)準(zhǔn)RS232通信口，方便系統(tǒng)與電腦的外部鏈接與數(shù)據(jù)傳輸
技術(shù)參數(shù)：

標(biāo)準(zhǔn)配置：
主機(jī)、真空罐（標(biāo)配）
選購(gòu)件：
400真空罐/ 500真空罐（另購(gòu)）