可程式 高低溫濕熱老化箱 返回列表頁

可程式 高低溫濕熱老化箱

特點：

適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件，在高溫、低溫濕熱環(huán)境下的各項性能指標的檢驗。試驗數(shù)據(jù)可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任何軟可直接打開試驗曲線或Excel文檔。結(jié)構(gòu)設(shè)計周全: 水電分離設(shè)計，溫度均勻性。同溫層設(shè)計，±1.0℃，防止試驗頂部滴水。報警履歷顯示以及故障解除方法。

可程式 高低溫濕熱老化箱

型號：TEC-800PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-40℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實驗箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法