高溫烤箱 用于電子元件老化與性能測試 返回列表頁

高溫烤箱 用于電子元件老化與性能測試

一、產品概述

本產品是一款專為電子元器件、PCB板、集成電路（IC）等進行高溫老化和性能測試而設計的精密設備。它通過模擬高溫環(huán)境，加速產品潛在缺陷的暴露（如早期失效、性能衰減等），從而篩選出不合格品，評估并提升產品的可靠性、穩(wěn)定性及使用壽命，是電子產品生產制造和質量控制環(huán)節(jié)中關鍵設備。

高溫烤箱 用于電子元件老化與性能測試

二、基本結構

設備采用堅固的框架結構，主要組成部分包括：

1. 箱體：外層采用優(yōu)質冷軋鋼板噴塑，內膽為耐腐蝕、防污染的不銹鋼板（SUS304），中間填充高密度硅酸鋁纖維棉，隔熱性能優(yōu)異。

2. 加熱系統(tǒng)：采用耐高溫鎳鉻合金電加熱器，均勻布置在箱體四周或底部，確保熱力均勻輸出。

3. 風道循環(huán)系統(tǒng)：采用大功率、低噪音的特制風機，配以精心設計的風道，強制水平或垂直循環(huán)熱風，保證工作室內部溫度的高度均勻性。

4. 控制系統(tǒng)：位于箱體正面，集成智能型數顯溫控器、超溫保護器、定時器及電源開關等，操作界面直觀簡潔。

5. 安全系統(tǒng)：配備獨立超溫報警系統(tǒng)、漏電保護開關、風機過載保護等多重安全裝置，確保設備和操作人員的安全。

三、工作原理

設備基于強制對流熱風循環(huán)原理工作。控制系統(tǒng)根據用戶設定的溫度參數，指令加熱系統(tǒng)開始工作，產生的熱量由循環(huán)風機通過風道吸入工作室，形成均勻、穩(wěn)定的高溫環(huán)境。溫控器實時監(jiān)測箱內溫度，并通過PID算法自動調節(jié)加熱功率輸出，實現精準的恒溫控制，確保電子元件在預設的苛刻溫度條件下接受充分的老化測試。

四、主要功能及特點

• 精準控溫：采用PID智能控溫技術，控溫精度高，波動小（如±0.1℃~±1℃）。

• 均勻控溫：強力熱風循環(huán)系統(tǒng)，確保工作室內部各點溫度均勻性（如±2%～±3%）。

• 程序控制：可編程控制，支持多段溫度、時間設定，模擬復雜溫度曲線。

• 安全可靠：具備多重超溫保護、漏電保護、風機故障報警等安全功能。

• 耐用性強：不銹鋼內膽、優(yōu)質保溫材料及長壽命加熱元件，確保設備經久耐用。

• 直觀操作：數字顯示，觸摸屏或按鍵操作，設定簡單，監(jiān)控方便。

五、設備亮點與優(yōu)勢

• 高效篩選：大幅提高電子產品早期失效率的篩選效率，提升出廠產品良品率。

• 數據支撐：為產品的可靠性評估和改進提供至關重要的實測數據支持。

• 質量關口：是確保電子產品批次質量穩(wěn)定、可靠的關鍵質量關口。

• 節(jié)能設計：優(yōu)異的保溫性能有效減少熱量損失，降低長期運行能耗。

• 定制靈活：可根據客戶需求提供擱板、樣品架、測試引線孔等非標定制。

六、應用場景與領域

• 半導體行業(yè)：集成電路（IC）、芯片、二極管、三極管、晶振的老化測試。

• 通信行業(yè)：光模塊、路由器、交換機等通信設備內部元器件的性能評估。

• 汽車電子：ECU（電子控制單元）、傳感器、車載娛樂系統(tǒng)等部件的耐高溫測試。

• 消費電子：手機主板、電源適配器、鋰電池、LED顯示屏模組的壽命測試。

• 科研單位及質檢機構：用于電子產品的可靠性研究、失效分析和質量驗證。