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線性快速溫變循環(huán)測試箱

產(chǎn)品用途
溫度快速變化試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高溫低溫快速變化的環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)。

線性快速溫變循環(huán)測試箱

型號：TEB-800PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱：濕熱試驗導(dǎo)則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GJB150.3-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJB150.4-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗